[发明专利]半导体存储装置、存储器系统及执行读取动作的方法在审

专利信息
申请号: 202110761095.9 申请日: 2017-03-10
公开(公告)号: CN113380297A 公开(公告)日: 2021-09-10
发明(设计)人: 金野隼人;原田佳和;柳平康辅;中井润;上絋恵;宇都宫裕子 申请(专利权)人: 东芝存储器株式会社
主分类号: G11C16/04 分类号: G11C16/04;G11C16/08;G11C16/10;G11C16/26;G11C16/34;G11C7/10;G11C11/56
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 杨林勳
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 半导体 存储 装置 存储器 系统 执行 读取 动作 方法
【权利要求书】:

1.一种半导体存储装置,其特征在于包含:

存储器单元阵列,包括第1存储器单元、第2存储器单元及第3存储器单元;

第1字线,连接于所述第1存储器单元的栅极;

第2字线,连接于所述第2存储器单元的栅极;

第3字线,连接于所述第3存储器单元的栅极;及

控制电路,构成为:响应第1指令集而执行第1读取动作,响应随所述第1指令集之后的第2指令集而执行第2读取动作,及响应随所述第1指令集之后的第3指令集而执行第3读取动作;其中

所述第1读取动作包括第1读取序列,其中所述控制电路施加互不相同的至少第1至第3电压至所述第1字线;

在所述第2读取动作中,所述控制电路通过施加第1读取电压至所述第2字线,而从所述第2存储器单元读取数据,所述第1读取电压是基于所述第1读取动作的所述第1读取序列的结果而设定;且

在所述第3读取动作中,所述控制电路通过施加第2读取电压至所述第3字线,而从所述第3存储器单元读取数据,所述第2读取电压独立于所述第1读取序列的所述结果而设定。

2.根据权利要求1所述的半导体存储装置,其特征在于:

所述第3指令集包括读取指令,所述读取指令是在读取也包括在所述第3指令集中的地址信息之前由所述控制电路读取。

3.根据权利要求2所述的半导体存储装置,其特征在于:

所述第1指令集包括第1特殊指令与读取指令,所述第1特殊指令是在读取所述第1指令集中的所述读取指令之前由所述控制电路读取,且所述第1指令集中的所述读取指令是在读取也包括在所述第1指令集中的地址信息之前由所述控制电路读取;且

所述第2指令集包括第2特殊指令与读取指令,所述第2特殊指令是在读取所述第2指令集中的所述读取指令之前由所述控制电路读取,且所述第2指令集中的所述读取指令是在读取也包括在所述第2指令集中的地址信息之前由所述控制电路读取。

4.根据权利要求1所述的半导体存储装置,其特征在于:

所述第1读取动作包括第2读取序列,其中所述控制电路通过施加第3读取电压而从所述第1存储器单元读取所述数据,所述第3读取电压是基于所述第1读取序列的所述结果而设定。

5.根据权利要求1所述的半导体存储装置,其特征在于还包含:

第4字线,连接于所述存储器单元阵列的第4存储器单元的栅极;及

第5字线,连接于所述存储器单元阵列的第5存储器单元的栅极;其中

控制电路,构成为:响应第4指令集而执行第4读取动作,及响应随所述第4指令集之后的第5指令集而执行第5读取动作;

所述第4读取动作包括第3读取序列,其中所述控制电路施加互不相同的至少第4至第6电压至所述第4字线;且

在所述第5读取动作中,所述控制电路通过施加第3读取电压至所述第5字线,而从所述第5存储器单元读取数据,所述第3读取电压是基于所述第4读取动作的所述第3读取序列的结果而设定。

6.根据权利要求5所述的半导体存储装置,其特征在于:

所述第3读取电压与所述第2读取电压不同。

7.根据权利要求5所述的半导体存储装置,其特征在于:

所述第1及第4指令集各自包括第1特殊指令,且所述第2及第5指令集各自包括第2特殊指令;及

所述第1特殊指令是在读取也包括在所述第4指令集中的读取指令之前由所述控制电路读取,且所述第2特殊指令是在读取也包括在所述第5指令集中的读取指令之前由所述控制电路读取。

8.一种存储器系统,其特征在于包含:

控制器及根据权利要求1所述的半导体存储装置。

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