[发明专利]一种双功能超透镜和光的旋性探测方法

权利要求书

1.一种双功能超透镜，其特征在于，所述双功能超透镜包括：端面和与所述端面相连的超透镜镜体；

所述超透镜镜体包含第一介电质微结构和第二介电质微结构，其中，所述第一介电质微结构用于对所述端面的出射光进行中心聚焦，所述第二介电质微结构用于对所述端面的出射光进行离轴聚焦；

所述第一介电质微结构包含若干第一微单元，所述第二介电质微结构包含若干第二微单元；

所述若干第一微单元中每一第一微单元具有对应的第一传播相位调节值；所述第一传播相位调节值满足公式(1)：

其中，x,y为每一所述第一微单元在所述超透镜镜体中的坐标数据，f为所述超透镜镜体的焦距，λ为所述超透镜镜体的工作波长；

所述若干第二微单元中每一第二微单元具有对应的第二传播相位调节值和几何相位调节值；

所述第二传播相位调节值和所述几何相位调节值的和满足公式(2)，所述第二传播相位调节值满足公式(3)，所述几何相位调节值满足公式(4)：

其中，x,y为每一所述第二微单元在所述超透镜镜体中的坐标数据，x₀为基于离轴聚焦产生的左离轴焦点或者右离轴焦点与中心焦点之间的距离，+对应左离轴焦点，-对应右离轴焦点。

2.根据权利要求1所述的双功能超透镜，其特征在于，所述端面由光子晶体光纤构成。

3.根据权利要求2所述的双功能超透镜，其特征在于，所述光子晶体光纤的芯模具有在800nm-1550nm波段保持单模的特性，且所述光子晶体光纤的纤芯直径大于纯单模光纤芯。

4.根据权利要求1所述的双功能超透镜，其特征在于，所述第一介电质微结构包含若干第一微单元，所述第二介电质微结构包含若干第二微单元，所述若干第一微单元和所述若干第二微单元排布成规律重复的若干组，其中，所述若干组中每组均包含相同数量比例的所述第一微单元和所述第二微单元。

5.根据权利要求1所述的双功能超透镜，其特征在于，每一所述第二微单元具有对应的旋转角度，以达到每一所述第二微单元对应的所述几何相位调节值，其中，所述旋转角度为所述几何相位调节值的二分之一。

6.一种光的旋性探测方法，其特征在于，所述方法应用于权利要求1所述的双功能超透镜，所述方法包括：

将待探测光射入所述双功能超透镜，得到所述双功能超透镜基于所述待探测光产生的两个离轴焦点；

获取所述两个离轴焦点的相对光强数据；

根据所述相对光强数据，确定所述双功能超透镜基于所述待探测光产生的出射光的旋性数据。