[发明专利]可改善填充均匀性的离子化PVD设备有效
| 申请号: | 202110707392.5 | 申请日: | 2021-06-25 |
| 公开(公告)号: | CN113249701B | 公开(公告)日: | 2021-10-01 |
| 发明(设计)人: | 周云;宋维聪 | 申请(专利权)人: | 上海陛通半导体能源科技股份有限公司 |
| 主分类号: | C23C14/35 | 分类号: | C23C14/35;C23C14/54 |
| 代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 卢炳琼 |
| 地址: | 201201 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 改善 填充 均匀 离子化 pvd 设备 | ||
1.一种可改善填充均匀性的离子化PVD设备,其特征在于,所述离子化PVD设备包括腔体、溅射组件、基座、离子调节器和网格状金属盘;所述溅射组件位于腔体顶部,所述基座位于所述腔体内,所述离子调节器位于腔体内,且位于溅射组件和基座之间;所述离子调节器包括多个磁场调节单元,所述多个磁场调节单元相互间隔,并以所述腔体的中心为中心向外呈放射状分布,各所述磁场调节单元的非磁极面上包覆有软磁材料;所述磁场调节单元包括片状磁铁和电磁线圈中的一种,所述片状磁铁的表面磁场强度沿远离腔体中心的方向逐渐增强,且相邻的片状磁铁的磁极面的磁性相反;所述网格状金属盘位于离子调节器和基座之间,所述网格状金属盘连接至第一射频电源。
2.根据权利要求1所述的离子化PVD设备,其特征在于,所述片状磁铁的厚度沿远离腔体中心方向逐渐增大。
3.根据权利要求1所述的离子化PVD设备,其特征在于,所述片状磁铁的数量为2~40个,片状磁铁的厚度为20mm~80mm。
4.根据权利要求3所述的离子化PVD设备,其特征在于,所述片状磁铁的数量为6~30个,片状磁铁的厚度为30mm~50mm。
5.根据权利要求1所述的离子化PVD设备,其特征在于,所述离子调节器还包括连接环,各所述磁场调节单元远离腔体中心的一端与所述连接环相连接。
6.根据权利要求1所述的离子化PVD设备,其特征在于,所述软磁材料的厚度为2mm~6mm,所述软磁材料包括坡莫合金、电磁纯铁、不锈铁、硅钢和软磁铁氧体中的一种或多种的结合。
7.根据权利要求1所述的离子化PVD设备,其特征在于,所述电磁线圈为矩形状。
8.根据权利要求1所述的离子化PVD设备,其特征在于,所述基座连接至第二射频电源,第二射频电源的电压为50V~200V。
9.根据权利要求1所述的离子化PVD设备,其特征在于,所述离子化PVD设备还包括上电磁铁和下电磁铁,所述上电磁铁与所述溅射组件相邻设置,所述下电磁铁位于所述离子调节器和基座之间。
10.根据权利要求1所述的离子化PVD设备,其特征在于,所述网格状金属盘的厚度为2mm~6mm,第一射频电源的电压为30V~50V。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海陛通半导体能源科技股份有限公司,未经上海陛通半导体能源科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110707392.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类





