[发明专利]内存测试方法、装置、设备及存储介质

说明书

本公开是关于一种内存测试方法、装置、设备及存储介质。其中，内存测试方法包括：获取预设内存和待测内存；将待测内存设置为预留内存；启动操作系统，其中，操作系统运行于预设内存中；执行内存测试程序，测试待测内存，其中，内存测试程序运行于预设内存中。该内存测试方法中，提前准备一个预设内存，并使操作系统以及内存测试程序均运行于预设内存，以对待测内存的全部存储单元进行测试。该内存测试方法将待测内存置于操作系统的运行环境进行测试，测试结果更加可靠。而且，待测内存未运行操作操作系统和内存测试程序，因此，在对待测内存进行测试时，可以消除待测内存中各存储单元间的耦合影响，以更好地确保测试的可靠性。

技术领域

本公开实施例涉及但不限于半导体技术领域，尤其涉及一种内存测试方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

内存是系统平台最重要的部件之一，系统平台中所有程序的运行都是在内存中进行的。鉴于内存的重要性，系统平台运行过程中必须要保证内存可靠。

例如，为了保证内存在计算机(系统平台的一种)上可以正常使用，需要预先对内存进行测试。

发明内容

以下是对本文详细描述的主题的概述。本概述并非是为了限制权利要求的保护范围。

本公开提供一种内存测试方法、装置、设备及存储介质。

根据本公开实施例的第一方面，提供一种内存测试方法，所述内存测试方法包括：

获取预设内存和待测内存；

将所述待测内存设置为预留内存；

启动操作系统，其中，所述操作系统运行于所述预设内存中；

执行内存测试程序，测试待测内存，其中，所述内存测试程序运行于所述预设内存中。

其中，所述将所述待测内存设置为预留内存，包括：

将预设内存映射到系统地址空间的第一部分，并将待测内存映射到系统地址空间的第二部分，其中，所述系统地址空间为内核层的地址空间；

将所述第二部分标记为预留属性。

其中，所述第一部分和所述第二部分顺序排布。

其中，所述第一部分和所述第二部分相邻排布或间隔排布。

其中，所述执行内存测试程序，测试待测内存，包括：

获取所述第二部分映射于虚拟地址空间的虚拟地址和长度，其中，所述虚拟地址空间为应用程序层的地址空间；

根据所述获取的虚拟地址和长度，测试所述待测内存。

其中，所述获取所述第二部分映射于虚拟地址空间的虚拟地址和长度，包括：

加载预留内存驱动模块，所述预留内存驱动模块被配置为，获取所述系统地址空间预留部分的物理地址和长度，并将获取的物理地址和长度映射到虚拟地址空间，其中，所述预留部分为，所述系统地址空间中标记为所述预留属性的部分；

调用所述预留内存驱动模块的接口，以获取所述待测内存的虚拟地址和第一长度。

其中，所述启动操作系统之前，所述内存测试方法还包括：

将所述操作系统的镜像文件传输至所述预设内存。

其中，所述预设内存为已知良好的内存。

根据本公开实施例的第二方面，提供一种内存测试装置，所述内存测试装置包括：

获取模块，用于获取预设内存和待测内存；

设置模块，用于将所述待测内存设置为预留内存；