[发明专利]一种气体密度监测方法、装置、存储介质及电子设备有效
| 申请号: | 202110571334.4 | 申请日: | 2021-05-25 |
| 公开(公告)号: | CN113281218B | 公开(公告)日: | 2023-06-20 |
| 发明(设计)人: | 李建鹏;付炜平;范晓丹;赵智龙;孟荣;王旭;刘晓飞;郭末凯;李连众 | 申请(专利权)人: | 国网河北省电力有限公司检修分公司;国家电网有限公司 |
| 主分类号: | G01N9/26 | 分类号: | G01N9/26;G06F17/12;G06F17/15 |
| 代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 牛亭亭 |
| 地址: | 050000 河*** | 国省代码: | 河北;13 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 气体 密度 监测 方法 装置 存储 介质 电子设备 | ||
1.一种气体密度监测方法,其特征在于,包括:
根据标准设备内的气体密度确定所述标准设备的真实温度,并采集所述标准设备的多个表面位置的第一温度,形成第一温度矩阵;多个所述表面位置包括所述标准设备的正面位置、背面位置、两个侧面位置、上面位置和下面位置;
根据所述第一温度矩阵和所述真实温度确定温度矩阵与真实温度之间的函数关系;
采集待测设备的多个所述表面位置的第二温度,形成第二温度矩阵,并根据所述温度矩阵与真实温度之间的函数关系确定与所述第二温度矩阵对应的真实温度;
根据与所述第二温度矩阵对应的真实温度计算所述待测设备的气体密度。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一温度矩阵和所述真实温度确定温度矩阵与真实温度之间的函数关系包括:
每间隔一段时间确定所述标准设备的真实温度tri和第一温度矩阵Ti=[t1,t2,…,tn],其中,n为采集的表面位置的数量,tj表示第j个表面位置的第一温度,j∈[1,n];
基于主成分分析法对多个所述真实温度tri和多个所述第一温度矩阵Ti进行降维处理,并将所述第一温度矩阵与所述真实温度之间的函数关系作为温度矩阵与真实温度之间的函数关系。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据与所述第二温度矩阵对应的真实温度计算所述待测设备的气体密度,包括:
确定与所述第二温度矩阵对应的真实温度,以及所述待测设备当前的压力值;
将与所述第二温度矩阵对应的真实温度以及所述当前的压力值作为已知量,根据贝蒂-布里奇曼状态方程计算所述待测设备的气体密度;
将所述待测设备的气体密度以及预设温度作为已知量,根据所述贝蒂-布里奇曼状态方程计算在所述预设温度下的压力值。
4.根据权利要求1-3任意一项所述的方法,其特征在于,还包括:
每间隔一段时间确定所述待测设备的气体密度,按照时间先后顺序生成气体密度序列[ρ1,ρ2,…,ρm];其中,m表示所测得的气体密度的数量,ρi表示所述待测设备的第i个气体密度,i∈[1,m];
根据所述气体密度序列预测所述待测设备之后的气体密度。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述根据所述气体密度序列预测所述待测设备之后的气体密度包括:
对所述气体密度序列进行d次差分处理,确定经单位根检验具有平稳性的有效气体密度序列其中,d次差分处理后的第i个气体密度且
建立预测函数:其中,ut为白噪声序列中的第t个白噪声,p为自相关阶数,q为偏自相关阶数,θi为系数;
取至少p+q个t值建立方程组,确定每个系数和θi;
根据所述预测函数预测得到d次差分处理后的第m+1个气体密度并反推得出第m+1个气体密度ρm+1。
6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,在所述根据所述气体密度序列预测所述待测设备之后的气体密度之后,还包括:
判断所述待测设备之后的气体密度是否小于预设阈值,若是,则生成报警消息。
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