[发明专利]一种基于FPGA与互相关法的高精度时差测量方法有效
| 申请号: | 202110553159.6 | 申请日: | 2021-05-20 |
| 公开(公告)号: | CN113124948B | 公开(公告)日: | 2022-08-30 |
| 发明(设计)人: | 廖泽坤;赵伟国;林恒;马也驰 | 申请(专利权)人: | 中国计量大学 |
| 主分类号: | G01F1/667 | 分类号: | G01F1/667 |
| 代理公司: | 杭州奥创知识产权代理有限公司 33272 | 代理人: | 王佳健 |
| 地址: | 310018 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 基于 fpga 互相 高精度 时差 测量方法 | ||
1.一种基于FPGA与互相关法的高精度时差测量方法,其特征在于:具体测量步骤如下:
步骤一:对采样获得的回波信号进行峰值归一化处理,根据设定的数字阈值线比较触发回波信号,依次获得第二波、第三波与第四波的首位大于零幅值的采样点,并结合波形采样数据的相似度,获取回波信号第四波的首位大于零幅值的采样点作为特征点;
步骤二:由FPGA控制换能器的激励信号与回波信号的采样,根据所述特征点,结合FPGA的时钟控制,获得顺流回波信号、逆流回波信号间的“粗”时差测量值ΔtFPGA,具体是:设逆流回波信号的特征点为第ndown点,顺流回波信号的特征点为第nup点,采样频率为5MHz,则“粗”时差ΔtFPGA为:
ΔtFPGA=(ndown-nup)×200;
步骤三:截取特征点后的三周期波形进行上采样处理,对上采样处理后的波形数据进行互相关运算,得到互相关法的“细”时差测量值Δtcorr,具体是:
(1)截取过零特征点后的三周期波形作为互相关运算的计算波形;
(2)对截取的三周期波形进行上采样处理以提升采样频率,即首先对三周期信号的两点间隔内补插(L-1)个零,再对该信号进行低通滤波处理,获得采样频率提升至L倍的信号;
(3)对上采样处理后的三周期波形数据进行互相关运算;
(4)对互相关函数峰值处进行曲线拟合,以拟合曲线的对称轴位置作为互相关函数峰值的横坐标值,根据横坐标值乘以采样间隔得到互相关法的“细”时差测量值Δtcorr;设互相关函数峰值的横坐标值为xmax,上采样处理后的采样频率为100MHz,则“细”时差Δtcorr表示为:
Δtcorr=xmax×10;
步骤四:根据FPGA的“粗”时差测量值ΔtFPGA与互相关法的“细”时差测量值Δtcorr的和,得到高精度的时差测量值Δt。
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