[发明专利]一种矩阵光开关的测试装置及方法

说明书

本发明实施例公开一种矩阵光开关的测试装置及方法，其中所述装置包括控制组件、光发射组件、第一开关组件、第二开关组件和光接收组件，其中；所述光发射组件、所述第一开关组件、待测矩阵光开关、所述第二开关组件以及所述光接收组件之间按照设定方式连接，形成多个测试通道；所述设定方式与所述光发射组件中光发射单元的使用数量、所述待测矩阵光开关的型号相关；所述多个测试通道中的测试通道与所述待测矩阵光开关中的光开关一一对应；所述控制组件，用于执行测试程序，所述测试程序在执行时能够依次对所述多个测试通道中的每一个测试通道进行测试，获得所述待测矩阵光开关的性能参数；所述性能参数用于反映所述待测矩阵光开关是否合格。

技术领域

本发明涉及光通信技术领域，尤其涉及一种矩阵光开关的测试装置及方法。

背景技术

在光通信领域，通信业务的快速发展是基于光纤通信技术的问世和发展，光纤传输的业务量占目前世界通信业务大部分的份额，光纤已经在长途干线网和本地中继网中广泛使用。近几年互联网业务飞速发展增长，自动交换光网络(ASON，Automatic SwitchedOptical Networks)的核心节点由光交叉连接(OXC，Optical Cross Connect)设备构成。矩阵光开关作为自动交换光网络的核心设备，测试得到准确的矩阵光开关的指标过程以及对于矩阵光开关的测试效率要求变得越来越重要。鉴于此，提升现有矩阵光开关的测试方案的测试效率以及测试准确性的问题迫在眉睫。

发明内容

有鉴于此，本发明的主要目的在于提供一种矩阵光开关的测试装置及方法，该测试装置能够适应多种型号的矩阵光开关的测试，尤其是对大阵列矩阵光开关的测试，能够在减少测试仪器以及节省成本的情况下，提高测试效率和检测的准确性。

为达到上述目的，本发明的技术方案是这样实现的：

第一方面，本发明实施例提供一种矩阵光开关的测试装置，所述装置包括控制组件、光发射组件、第一开关组件、第二开关组件和光接收组件，其中；

所述光发射组件、所述第一开关组件、待测矩阵光开关、所述第二开关组件以及所述光接收组件之间按照设定方式连接，形成多个测试通道；所述设定方式与所述光发射组件中光发射单元的使用数量、所述待测矩阵光开关的型号相关；所述多个测试通道中的测试通道与所述待测矩阵光开关中的光开关一一对应；

所述控制组件，用于执行测试程序，所述测试程序在执行时能够依次对所述多个测试通道中的每一个测试通道进行测试，获得所述待测矩阵光开关的性能参数；所述性能参数用于反映所述待测矩阵光开关是否合格。

在上述方案中，在所述待测矩阵光开关中包含光开关的数量大于所述光发射组件中光发射单元的使用数量的情况下，所述设定方式为：所述光发射组件、所述第一开关组件、待测矩阵光开关、所述第二开关组件以及所述光接收组件之间依次连接；其中，

所述光发射组件中使用的光发射单元与所述第一开关组件中使用的第一子开关组件一一对应连接；使用的所述第一子开关组件中包含的光开关与所述待测矩阵光开关中的光开关一一对应连接；

所述第二开关组件中使用的第二子开关组件与所述光接收组件中使用的光接收单元一一对应连接；使用的所述第二子开关组件中包含的光开关与所述待测矩阵光开关中的光开关一一对应连接。

在上述方案中，所述光发射组件中光发射单元的使用数量依据测试效率需求确定；所述第一开关组件中第一子开关组件的使用数量与所述光发射组件中光发射单元的使用数量相同；每一个所述第一子开关组件中包含光开关的第一数量依据所述光发射组件中光发射单元的使用数量以及所述待测矩阵光开关的型号确定；

所述光接收组件中光接收单元的使用数量依据所述测试效率需求确定；所述第二开关组中第二子开关组件的使用数量与所述光接收组件的使用数量相同；每一个所述第二子开关组件中包含光开关的第二数量依据所述光接收组件中光接收单元的使用数量以及所述待测矩阵光开关的型号确定。