[发明专利]一种矩阵光开关的测试装置及方法有效
| 申请号: | 202110534281.9 | 申请日: | 2021-05-17 |
| 公开(公告)号: | CN113381808B | 公开(公告)日: | 2022-07-15 |
| 发明(设计)人: | 肖清明;徐文广 | 申请(专利权)人: | 武汉光迅科技股份有限公司 |
| 主分类号: | H04B10/079 | 分类号: | H04B10/079;H04Q11/00 |
| 代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人: | 王军红;张颖玲 |
| 地址: | 430074 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 矩阵 开关 测试 装置 方法 | ||
1.一种矩阵光开关的测试装置,其特征在于,所述装置包括:控制组件、光发射组件、第一开关组件、第二开关组件和光接收组件,其中;
所述光发射组件、所述第一开关组件、待测矩阵光开关、所述第二开关组件以及所述光接收组件之间按照设定方式连接,形成多个测试通道;所述设定方式与所述光发射组件中光发射单元的使用数量、所述待测矩阵光开关的型号相关;在所述待测矩阵光开关中包含光开关的数量大于所述光发射组件中光发射单元的使用数量的情况下,所述设定方式为:所述光发射组件、所述第一开关组件、待测矩阵光开关、所述第二开关组件以及所述光接收组件之间依次连接;其中,所述光发射组件中使用的光发射单元与所述第一开关组件中使用的第一子开关组件一一对应连接;使用的所述第一子开关组件中包含的光开关与所述待测矩阵光开关中的光开关一一对应连接;所述第二开关组件中使用的第二子开关组件与所述光接收组件中使用的光接收单元一一对应连接;使用的所述第二子开关组件中包含的光开关与所述待测矩阵光开关中的光开关一一对应连接;在所述待测矩阵光开关中包含光开关的数量不大于所述光发射组件中光发射单元的使用数量的情况下,所述设定方式为:所述光发射组件、所述待测矩阵光开关以及所述光接收组件依次连接,其中,所述光发射组件中光发射单元的使用数量以及所述光接收组件中光接收单元的使用数量由所述待测矩阵光开关确定;所述多个测试通道中的测试通道与所述待测矩阵光开关中的光开关一一对应;
所述控制组件,用于执行测试程序,所述测试程序在执行时能够依次对所述多个测试通道中的每一个测试通道进行测试,获得所述待测矩阵光开关的性能参数;所述性能参数用于反映所述待测矩阵光开关是否合格。
2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述光发射组件中光发射单元的使用数量依据测试效率需求确定;所述第一开关组件中第一子开关组件的使用数量与所述光发射组件中光发射单元的使用数量相同;每一个所述第一子开关组件中包含光开关的第一数量依据所述光发射组件中光发射单元的使用数量以及所述待测矩阵光开关的型号确定;
所述光接收组件中光接收单元的使用数量依据所述测试效率需求确定;所述第二开关组中第二子开关组件的使用数量与所述光接收组件的使用数量相同;每一个所述第二子开关组件中包含光开关的第二数量依据所述光接收组件中光接收单元的使用数量以及所述待测矩阵光开关的型号确定。
3.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述光发射组件中的光发射单元包括可调制信号的激光器,用于向对应测试通道发射光信号,所述光信号中调制有所述激光器的发射功率信息和所述对应测试通道的路径信息。
4.根据权利要求3所述的装置,其特征在于,所述光发射组件还包括第一探测单元,用于探测发射单元发射光信号的回波功率,其中,所述第一探测单元的数量与所述光发射组件中光发射单元的使用数量相同。
5.根据权利要求4所述的装置,其特征在于,所述光接收组件中的光接收单元包括光电检测模块和解调模块,其中,
所述光电检测模块,用于接收对应测试通道传输的光信号,并向给所述解调模块传输所述光信号;
所述解调模块,用于接收所述光电检测模块接收的所述光信号,对所述光信号进行解调,获得所述光信号中包含的路径信息和发射功率信息;向所述控制组件传输所述路径信息和所述发射功率信息。
6.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,所述光接收组件还包括第二探测单元,用于探测光接收单元接收光信号的功率值,其中,所述第二探测单元的数量与所述光接收组件中光接收单元的使用数量相同。
7.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述控制组件包括:处理器和用于存储所述测试程序的存储器,其中,所述处理器用于执行所述测试程序。
8.一种矩阵光开关的测试方法,其特征在于,应用于包含控制组件、光发射组件、第一开关组件、第二开关组件和光接收组件的测试装置中,所述方法包括:
确定待测矩阵光开关对应的多个测试通道;
获得所述多个测试通道中每一个测试通道对应的配置信息;
基于每一个所述对应的配置信息确定与所述多个测试通道对应的测试程序,所述测试程序在执行时能够依次对所述多个测试通道中的每一个测试通道进行测试;
执行所述测试程序,获得所述待测矩阵光开关的性能参数;基于所述性能参数判断所述待测矩阵光开关是否合格;
其中,所述多个测试通道为所述光发射组件、所述第一开关组件、待测矩阵光开关、所述第二开关组件以及所述光接收组件之间按照设定方式连接后形成;在所述待测矩阵光开关中包含光开关的数量大于所述光发射组件中光发射单元的使用数量的情况下,所述设定方式为:所述光发射组件、所述第一开关组件、待测矩阵光开关、所述第二开关组件以及所述光接收组件之间依次连接;其中,所述光发射组件中使用的光发射单元与所述第一开关组件中使用的第一子开关组件一一对应连接;使用的所述第一子开关组件中包含的光开关与所述待测矩阵光开关中的光开关一一对应连接;所述第二开关组件中使用的第二子开关组件与所述光接收组件中使用的光接收单元一一对应连接;使用的所述第二子开关组件中包含的光开关与所述待测矩阵光开关中的光开关一一对应连接;在所述待测矩阵光开关中包含光开关的数量不大于所述光发射组件中光发射单元的使用数量的情况下,所述设定方式为:所述光发射组件、所述待测矩阵光开关以及所述光接收组件依次连接,其中,所述光发射组件中光发射单元的使用数量以及所述光接收组件中光接收单元的使用数量由所述待测矩阵光开关确定;所述多个测试通道中的测试通道与所述待测矩阵光开关中的光开关一一对应;所述设定方式与所述光发射组件中光发射单元的使用数量、所述待测矩阵光开关的型号相关。
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