[发明专利]一种改进的自适应双幂次趋近律的方法、装置及存储介质有效
| 申请号: | 202110504021.7 | 申请日: | 2021-05-10 |
| 公开(公告)号: | CN113433823B | 公开(公告)日: | 2022-11-25 |
| 发明(设计)人: | 刘晨;谢宝娣;李亚雯;蔡继红;陈秋瑞;梅铮;段雨昕;王俊达;董国宝;霍达;杨涵博 | 申请(专利权)人: | 北京仿真中心 |
| 主分类号: | G05B13/04 | 分类号: | G05B13/04;G06F17/11 |
| 代理公司: | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人: | 陈君智 |
| 地址: | 100854 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 改进 自适应 双幂次 趋近 方法 装置 存储 介质 | ||
1.一种改进的自适应双幂次趋近律的方法,其特征在于,包括:
S10、根据系统特性及控制目标设计滑模面;
S20、设计滑模面的自适应双幂次趋近律;
S30、设计自适应双幂次趋近律中自适应增益的更新律;
S40、根据系统性能和控制目标对所述自适应双幂次趋近律和所述自适应增益的更新律中的各个参数进行调节;
所述S10包括:设计系统的滑模面变量其中,R为实数集,s为一个n维向量;所述自适应双幂次趋近律为:
其中,si为滑模面的第i个变量,ξ为一个常数参量,范围为0<ξ<1,为第一自适应增益,为第二自适应增益;所述自适应增益的更新律为:
其中,k1为第一常量增益,k2为第二常量增益,η1为增益变化率的第一阈值,η2为增益变化率的第二阈值,η1m为设计的第一最小增益,η2m为设计的第二最小增益,μ1为滑模面的第一变量阈值,μ2滑模面的第二变量阈值。
2.一种改进的自适应双幂次趋近律的装置,其特征在于,包括:
第一设计模块,用于根据系统特性及控制目标设计滑模面;
第二设计模块,用于设计滑模面的自适应双幂次趋近律;
第三设计模块,用于设计自适应双幂次趋近律中自适应增益的更新律;
调参模块,用于根据系统性能和控制目标对所述自适应双幂次趋近律和所述自适应增益的更新律中的各个参数进行调节;
设计系统的滑模面变量其中,R为实数集,s为一个n维向量;所述自适应双幂次趋近律为:
其中,si为滑模面的第i个变量,ξ为一个常数参量,范围为0<ξ<1,为第一自适应增益,为第二自适应增益;所述自适应增益的更新律为:
其中,k1为第一常量增益,k2为第二常量增益,η1为增益变化率的第一阈值,η2为增益变化率的第二阈值,η1m为设计的第一最小增益,η2m为设计的第二最小增益,μ1为滑模面的第一变量阈值,μ2滑模面的第二变量阈值。
3.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,所述第一设计模块包括:设计系统的滑模面变量其中,R为实数集,s为一个n维向量。
4.根据权利要求3所述的装置,其特征在于,所述自适应双幂次趋近律为:
其中,si表示滑模面的第i个变量,ξ为一个常数参量,范围为0<ξ<1,为第一自适应增益,为第二自适应增益。
5.根据权利要求4所述的装置,其特征在于,所述自适应增益的更新律为:
其中,k1为第一常量增益,k2为第二常量增益,η1为增益变化率的第一阈值,η2为增益变化率的第二阈值,η1m为设计的第一最小增益,η2m为设计的第二最小增益,μ1为滑模面的第一变量阈值,μ2滑模面的第二变量阈值。
6.一种计算机设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1所述的方法。
7.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,该程序被处理器执行时实现如权利要求1所述的方法。
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