[发明专利]一种测量基准和瞄准基准自动校准三坐标测量机在审
| 申请号: | 202110501913.1 | 申请日: | 2021-06-11 |
| 公开(公告)号: | CN113295091A | 公开(公告)日: | 2021-08-24 |
| 发明(设计)人: | 蒋正;许璐;左兴军;廖丽珍;陈星 | 申请(专利权)人: | 湖南新程检测有限公司 |
| 主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00 |
| 代理公司: | 成都瑞创华盛知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 51270 | 代理人: | 邓瑞;辜强 |
| 地址: | 412000 湖南省株洲市天元区*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 测量 基准 瞄准 自动 校准 坐标 | ||
本发明属于自动校准三坐标测量机技术领域,具体涉及一种测量基准和瞄准基准自动校准三坐标测量机,包括三坐标测量机构、激光干涉校准机构、控制处理组件,通过设置三坐标测量台,有效的便于物体的测量,且在Y轴滑轨上方连接支撑立柱,有效的对X轴横梁起到纵向移动的效果,并通过在X轴横梁外连接步距滑动架,从而使得步距滑动架让Z轴杆下方的坐标机测头在三坐标测量台上任意方位进行测量,通过设置双频激光干涉器,利用三坐标测量机构的探测系统的信号采集,实时触发双频激光干涉器的光路测量系统,通过光电信号联动带动三坐标测量机位置的校准进而实现步距规的高精度,高效率的校准。
技术领域
本发明属于自动校准三坐标测量机技术领域,具体涉及一种测量基准和瞄准基准自动校准三坐标测量机。
背景技术
随着机械加工技术的提高,对坐标测量机和数控机床的使用精度也提出了新的挑战,并且测量机广泛用于机械工程领域的工艺试验仪器。
但是现有的三坐标测量机在使用的过程中存在一些不足之处,首先就是现有的三坐标测量机在使用的过程中进行测量的过程中因步距规易于使用,却难于校准的问题。
发明内容
本发明的目的在于提供一种测量基准和瞄准基准自动校准三坐标测量机,以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种测量基准和瞄准基准自动校准三坐标测量机,包括三坐标测量机构、激光干涉校准机构、控制处理组件,所述三坐标测量机构包括三坐标支撑台、三坐标测量台、Y轴滑轨、支撑立柱、X轴横梁、步距滑动架、罩壳本体、Z轴杆、坐标机测头,所述三坐标支撑台的上表面焊接连接所述三坐标测量台,所述三坐标测量台的外表面缝隙卡钳所述Y轴滑轨,所述Y轴滑轨的上表面滑动连接所述支撑立柱,所述支撑立柱的上表面镶嵌连接所述X轴横梁,所述X轴横梁的外表面滑动连接所述步距滑动架,所述步距滑动架的上表面镶嵌连接所述罩壳本体,所述步距滑动架的下表面镶嵌连接所述Z轴杆,所述Z轴杆的下表面固定连接所述坐标机测头,所述激光干涉校准机构包括校准机构安装台、支撑杆、发射器旋转台、光束反射器、双频激光干涉器、参考光束、测量光束,所述校准机构安装台的上表面固定连接所述支撑杆,所述支撑杆的上表面转动连接所述发射器旋转台,所述发射器旋转台的上表面镶嵌连接所述光束反射器,所述光束反射器的右表面固定连接所述双频激光干涉器,所述光束反射器的左表面固定连接所述参考光束,所述参考光束的下表面固定连接所述测量光束。所述控制处理组件包括控制台、数据连接线、储物盒、控制PC主机、控制PC显示器、PC键盘,所述控制台的右表面电性连接所述数据连接线。
作为一种优选的实施方式,所述控制台的外表面滑动连接所述储物盒,所述储物盒的下表面放置连接所述控制PC主机。
作为一种优选的实施方式,所述控制PC主机的上表面电性连接所述控制PC显示器,所述控制PC显示器的前表面电性连接所述PC键盘。
作为一种优选的实施方式,所述校准机构安装台固定在所述三坐标测量台的前表面。
作为一种优选的实施方式,所述三坐标测量台是通过所述数据连接线与所述控制台进行连接。
作为一种优选的实施方式,所述Y轴滑轨与所述支撑立柱均设有两个,Y轴滑轨卡钳在所述三坐标测量台左右两侧,而所述支撑立柱滑动连接在所述Y轴滑轨的上方。
作为一种优选的实施方式,所述校准机构安装台的外表面按动连接激光控住按钮。
作为一种优选的实施方式,所述发射器旋转台与所述光束反射器连接处设置有转动轴承。
作为一种优选的实施方式,所述光束反射器的内表面设置有反射镜。
作为一种优选的实施方式,所述坐标机测头与所述Z轴杆可拆卸连接。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:
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