[发明专利]一种测量基准和瞄准基准自动校准三坐标测量机

权利要求书

1.一种测量基准和瞄准基准自动校准三坐标测量机，包括三坐标测量机构(1)、激光干涉校准机构(2)、控制处理组件(3)，其特征在于：所述三坐标测量机构(1)包括三坐标支撑台(11)、三坐标测量台(12)、Y轴滑轨(121)、支撑立柱(13)、X轴横梁(14)、步距滑动架(15)、罩壳本体(151)、Z轴杆(16)、坐标机测头(161)，所述三坐标支撑台(11)的上表面焊接连接所述三坐标测量台(12)，所述三坐标测量台(12)的外表面缝隙卡钳所述Y轴滑轨(121)，所述Y轴滑轨(121)的上表面滑动连接所述支撑立柱(13)，所述支撑立柱(13)的上表面镶嵌连接所述X轴横梁(14)，所述X轴横梁(14)的外表面滑动连接所述步距滑动架(15)，所述步距滑动架(15)的上表面镶嵌连接所述罩壳本体(151)，所述步距滑动架(15)的下表面镶嵌连接所述Z轴杆(16)，所述Z轴杆(16)的下表面固定连接所述坐标机测头(161)，所述激光干涉校准机构(2)包括校准机构安装台(21)、支撑杆(212)、发射器旋转台(22)、光束反射器(23)、双频激光干涉器(24)、参考光束(25)、测量光束(26)，所述校准机构安装台(21)的上表面固定连接所述支撑杆(212)，所述支撑杆(212)的上表面转动连接所述发射器旋转台(22)，所述发射器旋转台(22)的上表面镶嵌连接所述光束反射器(23)，所述光束反射器(23)的右表面固定连接所述双频激光干涉器(24)，所述光束反射器(23)的左表面固定连接所述参考光束(25)，所述参考光束(25)的下表面固定连接所述测量光束(26)。所述控制处理组件(3)包括控制台(31)、数据连接线(311)、储物盒(312)、控制PC主机(32)、控制PC显示器(33)、PC键盘(34)，所述控制台(31)的右表面电性连接所述数据连接线(311)。

2.根据权利要求1所述的一种测量基准和瞄准基准自动校准三坐标测量机，其特征在于：所述控制台(31)的外表面滑动连接所述储物盒(312)，所述储物盒(312)的下表面放置连接所述控制PC主机(32)。

3.根据权利要求1所述的一种测量基准和瞄准基准自动校准三坐标测量机，其特征在于：所述控制PC主机(32)的上表面电性连接所述控制PC显示器(33)，所述控制PC显示器(33)的前表面电性连接所述PC键盘(34)。

4.根据权利要求1所述的一种测量基准和瞄准基准自动校准三坐标测量机，其特征在于：所述校准机构安装台(21)固定在所述三坐标测量台(12)的前表面。

5.根据权利要求1所述的一种测量基准和瞄准基准自动校准三坐标测量机，其特征在于：所述三坐标测量台(12)是通过所述数据连接线(311)与所述控制台(31)进行连接。

6.根据权利要求1所述的一种测量基准和瞄准基准自动校准三坐标测量机，其特征在于：所述Y轴滑轨(121)与所述支撑立柱(13)均设有两个，Y轴滑轨(121)卡钳在所述三坐标测量台(12)左右两侧，而所述支撑立柱(13)滑动连接在所述Y轴滑轨(121)的上方。

7.根据权利要求1所述的一种测量基准和瞄准基准自动校准三坐标测量机，其特征在于：所述校准机构安装台(21)的外表面按动连接激光控住按钮(211)。

8.根据权利要求1所述的一种测量基准和瞄准基准自动校准三坐标测量机，其特征在于：所述发射器旋转台(22)与所述光束反射器(23)连接处设置有转动轴承。

9.根据权利要求1所述的一种测量基准和瞄准基准自动校准三坐标测量机，其特征在于：所述光束反射器(23)的内表面设置有反射镜。

10.根据权利要求1所述的一种测量基准和瞄准基准自动校准三坐标测量机，其特征在于：所述坐标机测头(161)与所述Z轴杆(16)可拆卸连接。