[发明专利]基于偏振复用的双通道微波源相位噪声测试方法及装置

权利要求书

1.基于偏振复用的双通道微波源相位噪声测试装置，其特征在于：包括：沿光路方向依次连接的垂直腔面激光器、双偏振强度调制器及偏振分束器，所述垂直腔面激光器用于产生两个不同偏振态的光载波信号，所述双偏振强度调制器用于对不同偏振态的光进行电光调制，

第一功分器的输入端连接待测微波源，输出端分别与第二功分器和第三功分器相连，第二功分器的输出端连接双偏振强度调制器及移相器A，移相器A的输出端连接混频器A，第三功分器的输出端连接双偏振强度调制器及移相器B，移相器B的输出端连接混频器B，

所述双偏振强度调制器通过光纤连接偏振分束器，偏振分束器的第一输出端连接光电探测器A，光电探测器A的输出端连接所述混频器A的输入端，偏振分束器的第二输出端连接光电探测器B，光电探测器B的输出端连接所述混频器B的输入端，

所述混频器A输出端连接低通滤波器A，所述混频器B连接低通滤波器B，所述低通滤波器A的输出端及所述混频器B的输出端分别连接信号分析装置。

2.根据权利要求1所述的基于偏振复用的双通道微波源相位噪声测试装置，其特征在于：所述信号分析装置为快速傅里叶变换分析仪，所述快速傅里叶变换分析仪接收并分析分别经低通滤波器A及低通滤波器B滤波的低频信号。

3.根据权利要求1所述的基于偏振复用的双通道微波源相位噪声测试装置，其特征在于：所述混频器A及所述混频器B为双平衡混频器。

4.根据权利要求1所述的基于偏振复用的双通道微波源相位噪声测试装置，其特征在于：

所述第一功分器、第二功分器和第三功分器均为宽带一分二微波功分器。

5.根据权利要求1所述的基于偏振复用的双通道微波源相位噪声测试装置，其特征在于：

所述移相器A、移相器B都为宽带微波移相器。

6.根据权利要求1所述的基于偏振复用的双通道微波源相位噪声测试装置，其特征在于：所述光电探测器A、光电探测器B都为宽带光电探测器。

7.根据权利要求1所述的基于偏振复用的双通道微波源相位噪声测试装置，其特征在于：所述光纤为保偏光纤。

8.根据权利要求1所述的基于偏振复用的双通道微波源相位噪声测试装置，其特征在于：还包括：放大器A及放大器B，

所述放大器A的输入端电性连接光电探测器A的输出端、所述放大器A的输出端电性连接所述混频器A的输入端，

所述放大器B的输入端电性连接光电探测器B的输出端、所述放大器B的输出端电性连接所述混频器B的输入端。

9.基于偏振复用的双通道微波源相位噪声测试方法，其特征在于：所述方法包括：

基于第一功分器将待测微波源发出的微波信号分成2路，

基于第二功分器及第三功分器将分别将2路中1路信号再分成2路信号，

将第二功分器及第三功分器分出的2路中的1路分别经移相器相位调整后，被发送到对应的混频器中，以便与射频信号保持相位正交，

另1路引入微波光子链路，以实现电光调制与时间延迟，微波光子链路中，将来自垂直腔面激光器的包括x偏振态和y偏振态的光引入双偏振强度调制器进行电光调制，并经保偏光纤传输至偏振分束器，

基于偏振分束器将不同偏振态的光分开，

x偏振态的光进入上支路，

y偏振态的光进入下支路，

然后基于上支路及下支路的光电探测器分别进行光电转换，转换后的信号输出至电放大器放大，并与本振信号在对应的混频器中混合，上支路经混频器混合输出的中频信号送至低通滤波器A,以滤除高频部分，下支路经混频器混合输出的中频信号送至低通滤波器B,以滤除高频部分，

基于信号分析装置接收低通滤波器A及低通滤波器B的低频信号进行相位噪声计算。

10.根据权利要求9所述的基于偏振复用的双通道微波源相位噪声测试方法，其特征在于：

所述上支路包括：依次电性连接的光电探测器A、放大器A及混频器A；

所述下支路包括：依次电性连接的光电探测器B、放大器B及混频器B。