[发明专利]一种硫化氢氧化物双纳米框架材料的制备方法及其应用有效
| 申请号: | 202110417914.8 | 申请日: | 2021-04-19 |
| 公开(公告)号: | CN113150299B | 公开(公告)日: | 2022-06-24 |
| 发明(设计)人: | 邱晓雨;王静纯;王思缘;唐亚文 | 申请(专利权)人: | 南京师范大学 |
| 主分类号: | C08G83/00 | 分类号: | C08G83/00;C25B1/02;C25B11/085 |
| 代理公司: | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人: | 殷星 |
| 地址: | 210024 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 硫化 氢氧化物 纳米 框架 材料 制备 方法 及其 应用 | ||
1.一种硫化氢氧化物双纳米框架材料的制备方法,其特征在于,取溶剂,向溶剂中加入NiCo-PBA后,再同时加入S2-阴离子源与OH-阴离子源,混合均匀后,水浴保温一段时间,通过对NiCo-PBA进行蚀刻进而得到含有硫化物和氢氧化物的框架结构NiCoSx(OH)y,即得硫化氢氧化物双纳米框架材料;所述溶剂为水或乙醇中一种或两种混合。
2.根据权利要求1所述的一种硫化氢氧化物双纳米框架材料的制备方法,其特征在于,所述S2-阴离子源为述Na2S、NaHS、K2S、(NH4)2S、或CH3CSNH2;OH-阴离子源为NaOH或KOH。
3.根据权利要求1所述的一种硫化氢氧化物双纳米框架材料的制备方法,其特征在于,所述S2-阴离子源与OH-阴离子源的质量比为(0.01~100) : 1。
4.根据权利要求1所述的一种硫化氢氧化物双纳米框架材料的制备方法,其特征在于,所述NiCo-PBA 和S2-阴离子源的质量比为(0.01~100) : 1。
5.根据权利要求1所述的一种硫化氢氧化物双纳米框架材料的制备方法,其特征在于,所述NiCo-PBA 和OH-阴离子源的质量比为(0.01~100) : 1。
6.根据权利要求1所述的一种硫化氢氧化物双纳米框架材料的制备方法,其特征在于,所述水浴温度为0~100℃,保温时间为15min-8h。
7.基于权利要求1所述方法制备的硫化氢氧化物双纳米框架材料在析氧反应上的应用。
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