[发明专利]一种显示芯片测试设备在审

专利信息
申请号: 202110380838.8 申请日: 2021-04-08
公开(公告)号: CN112881902A 公开(公告)日: 2021-06-01
发明(设计)人: 陈弈星;吴庆飞 申请(专利权)人: 南京芯视元电子有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R1/04
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 张洋
地址: 210000 江苏省南京市江北*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 显示 芯片 测试 设备
【权利要求书】:

1.一种显示芯片测试设备,其特征在于,包括:壳体以及设置于所述壳体内部的电路板,在所述电路板上设置有处理器、显卡模块和图像存储模块;所述处理器与所述显卡模块电连接,所述显卡模块与所述图像存储模块电连接,在所述电路板上还设置有与所述显卡模块连接的测试接口,用于插接已封装显示芯片以使所述处理器控制所述显卡模块调取所述图像存储模块中的数据信息后驱动所述已封装显示芯片显示图像。

2.如权利要求1所述的显示芯片测试设备,其特征在于,所述数据信息包括多套帧率图像信息,所述显卡模块用于根据所述处理器的指令信息调取与所述指令信息匹配的帧率图像信息以驱动所述已封装显示芯片显示对应帧率图像。

3.如权利要求1所述的显示芯片测试设备,其特征在于,所述显卡模块包括相互电连接的显存模块和显示驱动模块,所述处理器与所述显存模块电连接,所述图像存储模块与所述显存模块电连接,所述显示驱动模块与所述测试接口连接。

4.如权利要求1至3任一项所述的显示芯片测试设备,其特征在于,还包括主电源模块、处理器电源模块和显卡电源模块,所述处理器电源模块位于所述主电源模块的第一支路,以使所述主电源模块经所述处理器电源模块向所述处理器供电,所述显卡电源模块位于所述主电源模块的第二支路,以使所述主电源模块经所述显卡电源模块向所述显卡模块供电。

5.如权利要求1所述的显示芯片测试设备,其特征在于,在所述电路板上还设置有与所述处理器连接的模数转换器,所述模数转换器与所述已封装显示芯片连接,用于采集所述已封装显示芯片的电流信息。

6.如权利要求5所述的显示芯片测试设备,其特征在于,在所述模数转换器和所述已封装显示芯片之间还设置有电流放大器。

7.如权利要求1所述的显示芯片测试设备,其特征在于,还包括打线通断检测模块和切换开关,所述打线通断检测模块与所述切换开关的第一触点连接,所述显卡模块与所述切换开关的第二触点连接,所述切换开关与所述测试接口连接,在所述打线通断检测模块与所述切换开关的第一触点的连接线路上还设置有指示灯,所述处理器与所述切换开关电连接,用于切换所述打线通断检测模块和所述显卡模块与所述测试接口的连通状态。

8.如权利要求1所述的显示芯片测试设备,其特征在于,还包括显示屏,所述显示屏安设于所述壳体的一侧,且所述显示屏与所述处理器电连接。

9.如权利要求1所述的显示芯片测试设备,其特征在于,在所述电路板上还设置有数据接口,所述数据接口与所述处理器电连接。

10.如权利要求1所述的显示芯片测试设备,其特征在于,在所述电路板上还设置有通信接口,所述通信接口与所述处理器电连接。

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