[发明专利]一种光学干涉断层成像系统扫描范围的测量方法

说明书

本申请公开了一种光学干涉断层成像系统扫描范围的测量方法，包括如下步骤：将成像导管的有效扫描成像窗和靶装置置于折射率为n的介质中；将成像导管的有效扫描成像窗置于靶装置的内壁上；光学干涉断层成像系统和成像导管配合使用，成像导管探头沿轴向移动并扫描靶装置的内腔，从而得到目标扫描图像；在目标扫描图像中，测量代表成像导管扫描探头位置的点o与该帧图像中距o最远的点之间的距离L；光学干涉断层成像系统扫描半径R为L×n₀/n；n₀为光学干涉断层成像系统的匹配折射率。本申请提出一种光学干涉断层成像系统的扫描范围的测量方法，通过一次扫描便可以得到光学干涉断层成像系统的扫描范围，具有测量方法简单、方便快捷的优点。

技术领域

本申请涉及光学干涉断层成像系统技术领域，具体涉及一种光学干涉断层成像系统扫描范围的测量方法。

背景技术

光学相干断层扫描技术(Optical Coherence Tomography，简称OCT)是近年来发展较快的一种最具发展前途的新型层析成像技术，特别是在生物组织活体检测和成像方面具有诱人的应用前景，已尝试在心内科、眼科、牙科和皮肤科的临床诊断中应用，是继X-CT和MRI技术之后的又一大技术突破，近年来已得到了迅速的发展，基于该技术的光学干涉断层成像系统可使人们获得微米量级空间分辨率的超高清影像。光学干涉断层成像系统扫描用的成像导管常常是基于侧向光光纤透镜，与此同时，光学干涉断层成像系统的扫描范围等关键指标的测量成为此技术领域的重要课题。

关于光学干涉断层成像系统的扫描范围，目前也没有统一的测量方法，因此研究一种测量方法简单、准确率高的光学干涉断层成像系统的扫描范围的测量方法是目前该领域亟待解决的问题之一。

发明内容

针对，本申请提出一种光学干涉断层成像系统的扫描范围的测量方法，通过一次扫描便可以得到光学干涉断层成像系统的扫描范围，具有测量方法简单、方便快捷的优点。

本申请提供如下技术方案。

1、一种光学干涉断层成像系统扫描范围的测量方法，其特征在于，包括如下步骤：

将成像导管的有效扫描成像窗和靶装置置于折射率为n的介质中；

将成像导管的有效扫描成像窗置于所述靶装置的内壁上；

光学干涉断层成像系统和成像导管配合使用，所述成像导管探头沿轴向移动并扫描所述靶装置的内腔，从而得到目标扫描图像；

在所述目标扫描图像中，测量代表成像导管扫描探头位置的点o与该帧图像中距o最远的点之间的距离L；

所述光学干涉断层成像系统扫描半径R为L×n₀/n；

n₀为光学干涉断层成像系统的匹配折射率。

2、根据项1所述的测量方法，其特征在于，当所述靶装置的内腔为沿轴向的径向尺寸逐渐变大或变小时；

将成像导管的有效扫描成像窗置于所述靶装置的内壁上，光学干涉断层成像系统和成像导管配合使用，所述成像导管探头沿轴向扫描所述靶装置的内腔，从而得到多帧扫描图像；

选择最后一帧或第一帧可识别的扫描图像，作为目标扫描图像。

3、根据项1所述的测量方法，其特征在于，当所述靶装置的内腔为沿轴向的径向尺寸一致时，即内腔为等径的柱状结构时，所述靶装置的径向尺寸大于光学干涉断层成像系统理论设计扫描范围。

4、根据项1-3任一项所述的测量方法，其特征在于，所述靶装置的内腔的横截面为三角形、圆形、半圆形、矩形、梯形中的一种。