[发明专利]一种通过介质阻挡放电技术制备纯铝金相样品的方法有效
| 申请号： | 202110304694.8 | 申请日： | 2021-03-22 |
| 公开（公告）号： | CN112945676B | 公开（公告）日： | 2023-03-28 |
| 发明（设计）人： | 周根树;张潇珂;任颖;李禹辰;康珍玮 | 申请（专利权）人： | 西安交通大学 |
| 主分类号： | G01N1/28 | 分类号： | G01N1/28;G01N1/32;G01N1/34 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人： | 李鹏威 |
| 地址： | 710049 *** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 通过 介质 阻挡 放电 技术 制备 金相 样品 方法 | ||
1.一种通过介质阻挡放电技术制备纯铝金相样品的方法，其特征在于，将纯铝切割成块体，打磨并抛光，然后清洗干燥得到纯铝试样，将纯铝试样放置在介质板之间，并调整介质板间隙，采用低温等离子体处理纯铝试样，处理环境气氛为干燥的氧气，处理完毕后，即得到纯铝金相样品；
在将纯铝试样放置在介质板之间前，将环境温度调整为15-25℃，湿度小于30％，采用低温等离子体处理纯铝试样过程中，将电源频率调整至7kHz-13kHz，输入电流控制在1.5-2.0A，采用低温等离子体处理纯铝试样的时间为30min-60min。
2.根据权利要求1所述的一种通过介质阻挡放电技术制备纯铝金相样品的方法，其特征在于，所述块体高度为3-6mm。
3.根据权利要求1所述的一种通过介质阻挡放电技术制备纯铝金相样品的方法，其特征在于，所述打磨及抛光具体为：纯铝打磨至3000目砂纸，使用0.5μm氧化铝研磨膏抛光至镜面。
4.根据权利要求1所述的一种通过介质阻挡放电技术制备纯铝金相样品的方法，其特征在于，清洗过程采用丙酮和酒精依次进行，每步清洗3分钟。
5.根据权利要求1所述的一种通过介质阻挡放电技术制备纯铝金相样品的方法，其特征在于，采用低温等离子体处理纯铝试样前，将氧气气瓶用导管与冷干机相连，然后用导管将冷干机与密闭椭圆形反应器相连，仪器连接好后先打开气瓶与冷干机，通气流量为500mL/min，通气0.5-1h后，打开常压低温等离子体电源处理纯铝试样。
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