[发明专利]一种特高频局部放电检测设备主机快速测评装置及方法在审
| 申请号: | 202110286484.0 | 申请日: | 2021-03-17 |
| 公开(公告)号: | CN113009301A | 公开(公告)日: | 2021-06-22 |
| 发明(设计)人: | 彭晶;邓云坤;王科;谭向宇;马仪;赵现平;李昊;刘红文;彭兆裕 | 申请(专利权)人: | 云南电网有限责任公司电力科学研究院 |
| 主分类号: | G01R31/12 | 分类号: | G01R31/12 |
| 代理公司: | 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 | 代理人: | 逯长明;许伟群 |
| 地址: | 650217 云南省昆*** | 国省代码: | 云南;53 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 高频 局部 放电 检测 设备 主机 快速 测评 装置 方法 | ||
1.一种特高频局部放电检测设备主机快速测评装置,其特征在于,包括:函数信号发生器(1),信号线缆(2),波形发生器(3),高频信号线缆(4)以及待测设备(5);
所述函数信号发生器(1)通过信号线缆(2)连接所述波形发生器(3),所述波形发生器(3)通过高频信号线缆(4)连接所述待测设备(5);
所述函数信号发生器(1),用于产生触发信号;
所述信号线缆(2),用于传输所述触发信号;
所述波形发生器(3),用于接收所述触发信号,以及根据所述触发信号生成特高频信号;
所述高频信号电缆(4),用于传输所述特高频信号;
所述待测设备(5),用于接收所述特高频信号,以及根据所述特高频信号显示对应图谱。
2.根据权利要求1所述的一种特高频局部放电检测设备主机快速测评装置,其特征在于,所述特高频信号包括:特高频信号检测信号,模式识别检测信号,抗干扰能力检测信号中的至少一项。
3.根据权利要求2所述的一种特高频局部放电检测设备主机快速测评装置,其特征在于,包括:
所述特高频信号检测信号的脉冲重复率与工频不一致,并且所述特高频信号检测信号为频率为300MHz—3GHz内的单一频率信号。
4.根据权利要求2所述的一种特高频局部放电检测设备主机快速测评装置,其特征在于,包括:
所述模式识别检测信号的上升时间不大于333ps,工频周期为900或2700。
5.根据权利要求2所述的一种特高频局部放电检测设备主机快速测评装置,其特征在于,包括:
所述抗干扰能力检测信号的上升时间不大于333ps,工频周期为900或2700,以及将所述抗干扰能力检测信号叠加高斯噪声信号。
6.一种特高频局部放电检测设备主机快速测评方法,其特征在于,包括:
函数信号发生器产生触发信号,以及将所述触发信号通过信号缆线传输至波形发生器;
波形发生器根据所述触发信号,生成多种特高频信号,以及将所述特高频信号通过高频信号线缆传输至待测设备;
待测设备根据接收到的特高频信号进行能力测评,得到测评结果。
7.根据权利要求6所述的一种特高频局部放电检测设备主机快速测评方法,其特征在于,生成多种特高频信号的步骤为:
所述波形发生器调整所述特高频信号生成特高频信号检测信号,模式识别检测信号,抗干扰能力检测信号中的至少一项。
8.根据权利要求7所述的一种特高频局部放电检测设备主机快速测评方法,其特征在于,生成所述特高频信号检测信号的步骤为:
使所述特高频信号脉冲重复率与工频不一致,以及将所述特高频信号的频率调整为频率为300MHz—3GHz内的单一频率信号。
9.根据权利要求7所述的一种特高频局部放电检测设备主机快速测评方法,其特征在于,生成模式识别检测信号的步骤为:
调整所述特高频信号的上升时间,使所述上升时间不大于333ps,以及调整所述高频信号工频周期为900或2700。
10.根据权利要求7所述的一种特高频局部放电检测设备主机快速测评方法,其特征在于,生成抗干扰能力检测信号的步骤为:
调整所述特高频信号的上升时间,使所述上升时间不大于333ps,以及调整所述高频信号工频周期为900或2700;
将所述调整后的特高频信号与高斯噪声信号叠加。
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