[发明专利]一种编码器的测试设备

说明书

本发明公开了一种编码器的测试设备，包括测试电机、和测试电机相的转轴相连接的参照编码器；和测试电机以及参照编码器相连接的控制器；测试电机的转轴用于和电机装置的转轴固定连接，其中，电机装置的转轴和待测编码器的码盘固定连接；控制器分别和测试电机、参照编码器以及待测编码器相连接，用于对待测编码器进行通讯功能测试和测量功能测试。本申请中所提供的测试设备集成了对编码器的测量和通讯均能够进行测试的功能，能够通过该测试设备简单快速的实现对组装的编码器的性能测试，进而保证编码器组装完成后工作性能的稳定性和可靠性。

技术领域

本发明涉及编码器性能测试技术领域，特别是涉及一种编码器的测试设备。

背景技术

编码器是工控领域中广泛应用的器件之一。而目前大部分生产工控产品的厂家并不具有研发编码器的能力，而是直接采购现成的编码器。目前直接采购的编码器主要包括两种一种是整体式编码器，也即是在出厂时已经组装成一个整体，具有装配难度低的优点，但同样也具有价格昂贵、体积大，对适应安装空间的灵活度低的缺点；另一种是分体式编码器，也即是出厂时各个主要部件并没有进行组装，而是在客户实际使用时根据安装空间自行组装，优点是价格低，能够根据安装空间灵活安装，缺点是安装难度大。

发明内容

本发明的目的是提供一种编码器的测试设备，为编码器的性能测试提供便利性，保证了编码器测量应用的测量结果准确可靠。

为解决上述技术问题，本发明提供一种编码器的测试设备，包括测试电机、和所述测试电机相的转轴相连接的参照编码器；和所述测试电机以及所述参照编码器相连接的控制器；

所述测试电机的转轴用于和电机装置的转轴固定连接，其中，所述电机装置的转轴和待测编码器的码盘固定连接；

所述控制器用于所述待测编码器相连接，并向所述待测编码器发送通讯测试信号，并接收所述待测编码器的反馈信号，若是所述反馈信号符合预设通讯协议，则所述待测编码器通过通讯功能测试；还用于控制所述测试电机带动所述参照编码器和所述待测编码器的码盘同步旋转，采集并对比所述参照编码器输出的参照绝对位置和所述待测编码器输出的绝对位置，若参照绝对位置和所述绝对位置之间差异在预设误差范围内，则所述待测编码器通过测量功能测试。

可选地，所述控制器用于控制所述测试电机带动所述参照编码器和所述待测编码器的码盘同步旋转至多个特定角度位置，采集所述参照编码器输出的第一参照绝对位置和所述待测编码器输出的第一绝对位置；对比获得每个特定角度位置对应的第一参照绝对位置和和第一绝对位置之间的第一位置差值，若所述第一位置差值在第一预设误差范围内，则所述待测编码器通过基本测量功能测试。

可选地，所述控制器用于控制所述测试电机带动所述参照编码器和所述待测编码器的码盘同步旋转最多一圈；且采集所述参照编码器实时输出的第二参照绝对位置和所述待测编码器实时输出的第二绝对位置；获得同一时刻测得的所述第二参照绝对位置和所述第二绝对位置之间的第二位置差值；根据各个所述第二位置差值获得所述第二位置差值的偏差数据，若所述偏差数据在预设偏差范围内，则所述待测编码器通过测量精度测试。

可选地，所述控制器还用于控制所述测试电机带动所述待测编码器的码盘匀速旋转，并采集所述待测编码器旋转至少一圈输出的绝对位置数据；检测间隔预设时长的任意两个时间点采集的绝对位置数据的数据差值是否均在预设数据差值范围内，若是，则所述待测编码器通过采集数据频率稳定性测试。

可选地，还包括和所述控制器相连接的温度传感器，用于检测所述待测编码器随所述测试电机旋转过程中的参照温度数据；

所述控制器用于采集所述待测编码器输出的温度数据，并对比并确定所述温度数据和所述参照温度数据之间温度差值是否在预设温度范围内，若是，则所述待测编码器的温度检测功能测试通过。

可选地，还包括和所述控制器相连接的电压检测器，用于监测所述待测编码器中供电电源的参照供电电压；