[发明专利]一种单晶金刚石紫外探测器及其制备方法在审
| 申请号: | 202110232453.7 | 申请日: | 2021-03-02 |
| 公开(公告)号: | CN113097330A | 公开(公告)日: | 2021-07-09 |
| 发明(设计)人: | 王宏兴;常晓慧;闫秀良;王若铮;王艳丰 | 申请(专利权)人: | 西安交通大学 |
| 主分类号: | H01L31/09 | 分类号: | H01L31/09;H01L31/0224;H01L31/028;H01L31/18 |
| 代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 范巍 |
| 地址: | 710049 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 金刚石 紫外 探测器 及其 制备 方法 | ||
1.一种单晶金刚石紫外探测器,其特征在于,包括:单晶金刚石衬底(1)、金属辅助生长单晶金刚石薄膜(2)和叉指电极(3);所述金属辅助生长单晶金刚石薄膜(2)设置于所述单晶金刚石衬底(1)上,所述叉指电极(3)设置于所述金属辅助生长单晶金刚石薄膜(2)上;
其中,所述金属辅助生长单晶金刚石薄膜(2)在生长过程中掺入钨金属原子。
2.根据权利要求1所述的一种单晶金刚石紫外探测器,其特征在于,所述单晶金刚石衬底(1)为本征金刚石材料,其均方根表面粗糙度小于0.5nm,拉曼半峰宽小于5cm-1,X射线衍射半峰宽小于0.1°。
3.根据权利要求1所述的一种单晶金刚石紫外探测器,其特征在于,所述金属辅助生长单晶金刚石薄膜(2)中,钨金属原子在金刚石中的体浓度小于等于1018cm-3。
4.根据权利要求1所述的一种单晶金刚石紫外探测器,其特征在于,所述叉指电极(3)的材质为钛、金、钯、钨、铝中的一种或多种。
5.根据权利要求1所述的一种单晶金刚石紫外探测器,其特征在于,所述叉指电极(3)的厚度为10~200nm,叉指间距为1~50μm。
6.一种单晶金刚石紫外探测器的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:
1)对单晶金刚石衬底进行酸碱处理,并吹干,获得处理后的单晶金刚石衬底;
2)利用微波等离子体化学沉积技术在处理后的单晶金刚石衬底表面进行金属辅助生长金刚石,获得金属辅助生长单晶金刚石薄膜;其中,金属辅助生长单晶金刚石薄膜在生长过程中掺入钨金属原子;
3)将获得的金属辅助生长单晶金刚石薄膜变为氧终端;利用光刻和金属沉积技术,在金属辅助生长单晶金刚石薄膜上形成叉指电极,获得单晶金刚石紫外探测器。
7.根据权利要求6所述的制备方法,其特征在于,步骤2)中,在金刚石薄膜生长过程中掺入钨金属原子时,使得钨金属原子在金刚石中的体浓度小于等于1018cm-3。
8.根据权利要求6所述的制备方法,其特征在于,步骤3)中,所述将获得的金属辅助生长单晶金刚石薄膜变为氧终端的具体步骤包括:
利用高温酸洗工艺对步骤2)获得的金属辅助生长单晶金刚石薄膜进行处理,使其变为氧终端;
其中,所述高温酸洗工艺为,将1:1的硫酸硝酸混合溶液加热到250℃,进行酸洗。
9.根据权利要求6所述的制备方法,其特征在于,步骤3)中,所述叉指电极的材质为钛、金、钯、钨、铝中的一种或多种。
10.根据权利要求6所述的制备方法,其特征在于,步骤3)中,所述叉指电极的厚度为10~200nm,叉指间距为1~50μm。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安交通大学,未经西安交通大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110232453.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的





