[发明专利]二次雷达探测方法、装置、设备、系统、介质及程序产品在审

专利信息
申请号: 202110163065.8 申请日: 2021-02-05
公开(公告)号: CN113030946A 公开(公告)日: 2021-06-25
发明(设计)人: 王向荣;张吉发 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01S13/78 分类号: G01S13/78
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 虞浩;刘芳
地址: 100191 北京市海淀区学*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 二次 雷达 探测 方法 装置 设备 系统 介质 程序 产品
【权利要求书】:

1.一种二次雷达探测方法,其特征在于,包括:

获取二次雷达的控制指令,所述二次雷达包括:第一二次雷达以及第二二次雷达;

根据所述控制指令重新确定所述第一二次雷达或所述第二二次雷达的询问天线阵列结构,并通过所述询问天线阵列结构向各个探测对象发送询问信号;

利用多接收机探测模型,根据应答机返回的第一应答信号和第二应答信号确定所述探测对象的状态信息,所述应答机搭载在所述探测对象上,所述第一应答信号为所述第一二次雷达接收到的应答信号,所述第二应答信号为第二二次雷达接收到的应答信号,所述状态信息包括:运动状态、空间位置状态、身份识别标识。

2.根据权利要求1所述的二次雷达探测方法,其特征在于,在所述获取二次雷达的控制指令之前,还包括:

加载映射表,所述映射表用于记录询问方向与天线阵列结构的对应映射关系,所述询问方向用于表示所述询问信号对应的雷达波束的中心方向角度;

所述根据所述控制指令重新确定所述第一二次雷达或所述第二二次雷达的询问天线阵列结构,包括:

根据所述控制指令中的询问方向以及所述映射表,确定所述第一二次雷达或第二二次雷达的询问天线阵列结构。

3.根据权利要求2所述的二次雷达探测方法,其特征在于,在所述加载映射表之前,还包括:

利用预设优化问题模型,根据所述询问方向,从所述第一二次雷达或所述第二二次雷达的N个天线中选出M个目标天线,其中,M小于或等于N,所述M个目标天线构成了所述询问天线阵列结构;

将各个所述询问方向与对应的所述询问天线阵列结构的映射关系存储到所述映射表中。

4.根据权利要求3所述的二次雷达探测方法,其特征在于,所述N个天线均匀分布在一预设直径的圆周上,所述询问天线阵列结构包括M个天线构成的稀疏圆形相控阵列,所述询问天线阵列结构在所述二次雷达的询问应答周期中也用于接收所述应答信号。

5.根据权利要求4所述的二次雷达探测方法,其特征在于,所述利用多接收机探测模型,根据应答机返回的第一应答信号和第二应答信号确定所述探测对象的状态信息,包括:

利用和差波束测角法,根据所述第一应答信号,确定第一来波方位角;

利用和差波束测角法,根据所述第二应答信号,确定第二来波方位角;

利用预设几何测算模型,根据所述第一来波方位角、所述第二来波方位角,所述第一应答信号或所述第二应答信号中所述探测对象的高度,以及所述第一二次雷达与所述第二二次雷达的位置坐标,确定所述状态信息。

6.根据权利要求5所述的二次雷达探测方法,其特征在于,所述预设几何测算模型为双曲线模型,所述利用预设几何测算模型,根据所述第一来波方位角、所述第二来波方位角,所述探测对象的高度,以及所述第一二次雷达与所述第二二次雷达的位置坐标,确定所述状态信息,包括:

利用双曲线模型,根据所述第一来波方位角以及所述第一二次雷达与所述第二二次雷达的位置坐标,确定所述探测对象的第一空间坐标;

利用双曲线模型,根据所述第二来波方位角以及所述第一二次雷达与所述第二二次雷达的位置坐标,确定所述探测对象的第二空间坐标;

若所述第一空间坐标与所述第二空间坐标满足预设条件,则确定所述探测对象的空间坐标为所述第一空间坐标或所述第二空间坐标;

否则,识别出所述探测对象为虚假对象。

7.一种电子设备,其特征在于,包括:

射频开关,用于实时从N个按圆周排列的二次雷达天线中选择M个天线重构询问天线阵列结构,所述询问天线阵列结构为稀疏圆形相控天线阵列结构,其中M小于或等于N;

处理器;以及,

存储器,用于存储所述处理器的可执行指令;

其中,所述处理器配置为经由执行所述可执行指令来执行权利要求1至6任一项所述的二次雷达探测方法。

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