[发明专利]用于确定物体定位的方法和装置

权利要求书

1.一种用于确定物体(3)——尤其是具有多个部件(3a，3b)的装置中的部件(3b)——的定位的方法，其中，

-以光学方式对布置在该物体(3)处或布置在从该物体(3)采集的参考物体处的至少一个采集结构(2)进行采集，并由此获得采集信息，

-该至少一个采集结构(2)具有沿该采集结构(2)的表面变化的点对称的光学特性分布曲线，

-将与同该采集信息一起被采集的点对称的光学特性分布曲线相对应的位置相关数学函数变换为频域，从而获得第一频率相关数学函数，

-根据该第一频率相关数学函数形成第二频率相关数学函数，其中，该第二数学函数根据该第一频率相关数学函数的复数函数值的实部与虚部的关系分别形成，

-形成该第二频率相关数学函数的至少一个函数值并将其确定为关于该位置相关数学函数的对称点的位置的位置信息。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，该位置相关数学函数是该位置的离散值的函数，并且其中，该位置相关数学函数通过离散傅立叶变换被变换为频域。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其中，针对多个频率值形成该第二频率相关数学函数的函数值，并且其中，将通过对这些函数值进行加权而获得的加权值确定为对该对称点的位置的度量。

4.根据权利要求3所述的方法，其中，该第二频率相关数学函数的函数值在低频值处比在较高频值处更高地加权。

5.根据权利要求4所述的方法，其中，分配给大于极限频率值或大于或等于极限频率值的频率值的所有函数值

-被加权为使得加权值为零，和/或

-在确定该对称点的位置时不被考虑。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的方法，其中，在二维位置相关数学函数的情况下，该第一频率相关数学函数形成为二维频率相关数学函数，其中，根据第一频率相关数学函数形成两个第二频率相关数学函数，这两个第二频率相关数学函数中的每个函数的至少一个函数值被确定为关于该对称点的位置的位置信息，并且其中，这两个第二频率相关数学函数分别对应于该二维位置相关数学函数的位置坐标轴，并且因此，这些函数值分别具有关于对应位置坐标轴的位置信息。

7.一种用于确定物体(3)——尤其是具有部件(3a，3b)的装置中的部件(3b)——的定位的装置，其中，

-该装置具有至少一个采集结构(2)，该采集结构可布置在该物体(3)处或可布置在从该物体(3)采集的参考物体处，并且该装置具有用于对该采集结构(2)进行采集的采集设备(21)，

-该采集设备(21)被配置为以光学方式对该至少一个采集结构(2)进行采集并由此获得采集信息，

-该至少一个采集结构(2)具有沿该采集结构(2)的表面变化的点对称的光学特性分布曲线，

-该装置具有评估设备(23)，其中，该评估设备(23)和/或该采集设备(21)被配置为生成与同该采集信息一起被采集的点对称的光学特性分布曲线相对应的位置相关数学函数，

-该评估设备(23)被配置为将该位置相关数学函数变换为频域，从而获得第一频率相关数学函数，

-该评估设备(23)被配置为根据该第一频率相关数学函数形成第二频率相关数学函数，其中，该第二数学函数根据该第一频率相关数学函数的复数函数值的实部与虚部的关系分别形成，

-该评估设备(23)被配置为形成该第二频率相关数学函数的至少一个函数值并将其确定为关于该位置相关数学函数的对称点的位置的位置信息。

8.根据权利要求7所述的装置，其中，该位置相关数学函数是该位置的离散值的函数，并且其中，该评估设备(23)被配置为通过离散傅立叶变换将该位置相关数学函数变换为频域。

9.根据权利要求7或8所述的装置，其中，该评估设备(23)被配置为针对多个频率值形成该第二频率相关数学函数的函数值，并且将通过对这些函数值进行加权而获得的加权值确定为对该对称点的位置的度量。