[发明专利]一种芯片调试方法、系统、设备及计算机可读存储介质在审
| 申请号: | 202110076377.5 | 申请日: | 2021-01-20 |
| 公开(公告)号: | CN112732586A | 公开(公告)日: | 2021-04-30 |
| 发明(设计)人: | 任明刚;吴睿振;余洪斌;崔健 | 申请(专利权)人: | 山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司 |
| 主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
| 代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 王雨 |
| 地址: | 250001 山东省济南市自由贸易试验*** | 国省代码: | 山东;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 芯片 调试 方法 系统 设备 计算机 可读 存储 介质 | ||
1.一种芯片调试方法,其特征在于,包括:
在预设的内存数据库中获取调试信息;
按照所述调试信息对目标芯片进行调试,得到调试结果;
将所述调试结果记录至所述内存数据库中。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述在预设的内存数据库中获取调试信息,包括:
在所述内存数据库中获取调试信息控制表;
基于所述调试信息控制表确定所述调试信息;
其中,所述调试信息控制表的数据结构包括:芯片模块标识、调试级别、性能模式、文件名、行号。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述将所述调试结果记录至所述内存数据库中,包括:
将所述调试结果记录至所述内存数据库的调试信息记录表中;
所述调试信息记录表的数据结构包括:时间戳、进程标识、线程标识、芯片模块标识、调试级别、文件名、行号、调试结果。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述按照所述调试信息对目标芯片进行调试,得到调试结果,包括:
按照所述调试信息对所述目标芯片进行调试;
判断所述调试信息中的所述性能模式是否开启,若是,则记录性能数据作为所述调试结果。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述判断所述调试信息中的所述性能模式是否开启之后,还包括:
若所述性能模式未开启,则判断所述调试信息中是否包含文件名和/或行号;
若包含文件名和/或行号,则直接记录所述调试结果;
若不包含文件名,且不包含行号,则判断所述调试信息中的调试级别是否高于预设级别;
若所述调试信息中的调试级别高于所述预设级别,则直接记录所述调试结果。
6.根据权利要求1至5任一项所述的方法,其特征在于,所述将所述调试结果记录至所述内存数据库中之后,还包括:
在所述内存数据库中持久化所述调试结果。
7.根据权利6所述的方法,其特征在于,所述将所述调试结果记录至所述内存数据库中之后,还包括:
基于所述内存数据库对所述调试结果进行分析,得到分析结果,所述分析的方式包括筛选、统计、排序、查找。
8.一种芯片调试系统,其特征在于,包括:
第一获取模块,用于在预设的内存数据库中获取调试信息;
第一调试模块,用于按照所述调试信息对目标芯片进行调试,得到调试结果;
第一记录模块,用于将所述调试结果记录至所述内存数据库中。
9.一种芯片调试设备,其特征在于,包括:
存储器,用于存储计算机程序;
处理器,用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任一项所述芯片调试方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述芯片调试方法的步骤。
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