[发明专利]电性测试座

说明书

本发明提供一种电性测试座，包含：中间片，包含多个第一导电部分，其中多个第一导电粒子配置于第一弹性物质中；上部片，安置于中间片上方且包含多个第二导电部分，其中多个第二导电粒子配置于第二弹性物质中；以及下部片，安置于中间片下方且包含多个第三导电部分，其中多个第三导电粒子配置于第三弹性物质中，其中第一弹性物质包含在高温下膨胀率小于第二弹性物质及第三弹性物质的材料。

技术领域

本揭示涉及一种电性测试座，且更特定言之，尤其涉及一种甚至在高温及低温环境中可保持极佳电特性且具有增加的使用寿命的电性测试座。

背景技术

一般而言，电性测试座设置于待测试元件与测试元件之间以使待测试元件的端子与测试元件的衬垫彼此电连接。电性测试座用于测试过程中以用于判定待测试元件是否有缺陷。

图1示出根据现有技术的电性测试座(10)。

电性测试座(10)可包含插座主体，所述插座主体包含：导电部分(11)，在厚度方向上延伸，且其中多个导电粒子(11a)在厚度方向上配置于聚硅氧橡胶中；及绝缘部分(12)，安置于导电部分(11)之间以支撑导电部分(11)且包含聚硅氧橡胶。

当电性测试座(10)置放于测试元件(30)上时，待测试元件(20)的端子(21)与导电部分(11)的上部末端接触且按压于其上，且接着自测试元件(30)向待测试元件(20)施加某一电信号，电信号经由导电部分(11)自测试元件(30)的衬垫(31)传输至待测试元件(20)的端子(21)，由此执行某一电性测试。

不仅在室温下，而且在非常高温或非常低温的环境中执行电性测试以判定可能有缺陷的产品。在高温或低温环境中执行的电性测试中，首先，当测试元件配置于电性测试座下方且待测试元件配置于电性测试座上方时，测试元件及待测试元件在厚度方向上彼此压靠以在待测试元件与测试元件之间形成电连接。

接着，待测试元件通过使用热气流或加热器加热或冷却至某一温度且在所述状态下保持一定时间。随后，对待测试元件执行电性测试。

当在高温环境中执行电性测试时，电性测试座可膨胀及变形。详言之，电性测试座可包含50％的量的聚硅氧橡胶，且聚硅氧橡胶特性上易受热影响且在高温下膨胀。特定言之，如图3中所示出，在电性测试座中，导电部分(11)的中心部分在高温环境下显著膨胀。如此，当电性测试座膨胀时，不仅导电粒子(11a)之间的间隔增大，而且导电部分并不在厚度方向上串联配置，且因此电连接能力可劣化许多。

此外，在低温环境中，聚硅氧橡胶发生收缩变形，尤其在导电部分(11)的上部部分或下部部分处发生许多收缩变形。因此，由于聚硅氧橡胶的弹性能力劣化很多，所以电连接能力亦可劣化许多或电性测试座的使用寿命可缩短。

发明内容

技术挑战

为解决上述问题，本揭示提供一种电性测试座，在高温或低温环境中，其电连接能力可不劣化且使用寿命可提高。

解决问题的手段

额外实施例将在以下描述中部分地加以阐述，且部分地将根据描述而显而易见，或可通过实践本揭示的所呈现实施例而获知。

根据本揭示的实施例，一种用于使待测试元件的端子与测试元件的衬垫彼此电连接的电性测试座，所述电性测试座包含：

中间片，包含：多个第一导电部分，在对应于待测试元件的端子的每一位置处在厚度方向上延伸，且其中多个第一导电粒子配置于第一弹性物质中；及第一绝缘支撑部分，设置于多个第一导电部分之间，支撑多个第一导电部分中的每一者且包含第一弹性物质；

上部片，安置于中间片上方，且包含：多个第二导电部分，在对应于多个第一导电部分的位置处在厚度方向上延伸，且其中多个第二导电粒子配置于第二弹性物质中；及第二绝缘支撑部分，设置于多个第二导电部分之间，支撑多个第二导电部分且包含第二弹性物质；以及