[发明专利]使用空间变化偏振元件使偏振设备调准有效
| 申请号: | 202080022093.1 | 申请日: | 2020-02-17 |
| 公开(公告)号: | CN113574433B | 公开(公告)日: | 2023-07-04 |
| 发明(设计)人: | 埃文·马克·理查兹;基兰·托拜厄斯·莱文 | 申请(专利权)人: | 元平台技术有限公司 |
| 主分类号: | G02B7/00 | 分类号: | G02B7/00;G02B27/28;G02B27/62;G02B27/01 |
| 代理公司: | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人: | 王红英;杨明钊 |
| 地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 使用 空间 变化 偏振 元件 设备 调准 | ||
1.一种用于偏振设备的调准装置,所述调准装置包括:
偏振器子组件,用于使具有沿着第一轴的宽度的光束偏振;
旋转支撑物,用于在所述偏振器子组件下游的光束的路径中可旋转地支撑所述偏振设备;
检偏器子组件,位于所述旋转支撑物下游,用于接收通过所述偏振设备传播的光束;和
光电探测器阵列,位于所述检偏器子组件下游,所述光电探测器阵列沿着所述第一轴延伸,用于检测通过所述检偏器子组件传播的光束;
其中,所述偏振器子组件包括具有沿所述第一轴变化的偏振属性的空间变化偏振元件,并且其中所述检偏器子组件包括线性透射偏振器。
2.根据权利要求1所述的调准装置,其中,所述偏振器子组件包括线性透射偏振器,并且其中,所述检偏器子组件包括所述空间变化偏振元件。
3.根据权利要求2所述的调准装置,其中,所述偏振器子组件还包括所述线性透射偏振器下游的四分之一波片。
4.根据权利要求1所述的调准装置,其中,所述检偏器子组件还包括所述线性透射偏振器上游的四分之一波片。
5.根据权利要求1所述的调准装置,其中,所述空间变化偏振元件包括偏振器片段的阵列,所述阵列沿着所述第一轴延伸,其中,所述偏振器片段的透射轴方向从所述阵列的偏振器片段到偏振器片段变化。
6.根据权利要求1所述的调准装置,其中,所述空间变化偏振元件包括线性透射偏振器,所述线性透射偏振器沿着所述第一轴延伸并且具有沿着所述第一轴平滑且连续变化的透射轴方向。
7.根据权利要求1所述的调准装置,其中,所述空间变化偏振元件包括:
半波片片段的阵列,所述阵列沿着所述第一轴延伸,其中,所述阵列的半波片片段的光轴方向从所述阵列的半波片片段到半波片片段变化;和
线性偏振器,位于所述阵列下游。
8.根据权利要求1所述的调准装置,其中,所述空间变化偏振元件包括:
半波光学延迟器,沿着所述第一轴延伸,并且具有沿着所述第一轴平滑且单调变化的光轴方向;和
线性偏振器,位于所述半波光学延迟器下游。
9.根据权利要求1所述的调准装置,其中,所述空间变化偏振元件包括光学延迟器的阵列,所述阵列沿着所述第一轴延伸,其中,所述阵列的光学延迟器的延迟或光轴方向中的至少一个从所述阵列的光学延迟器到光学延迟器变化。
10.根据权利要求9所述的调准装置,其中,所述阵列的光学延迟器的延迟在所述光束的0.2个波长和0.3个波长之间变化。
11.根据权利要求1所述的调准装置,其中,所述空间变化偏振元件包括光学延迟器,所述光学延迟器沿着所述第一轴延伸并且具有沿着所述第一轴平滑且连续变化的光学延迟或光轴方向中的至少一个。
12.根据权利要求1所述的调准装置,其中,所述偏振设备包括扁平透镜偏振部件。
13.一种用于使偏振设备调准的调准系统,所述调准系统包括:
光源,用于提供具有沿着第一轴的宽度的第一光束;
第一空间变化偏振元件,具有沿着所述第一轴变化的偏振属性,用于接收所述第一光束并且使所述第一光束偏振,其中所述第一空间变化偏振元件包括线性透射偏振器;和
第一调准装置,包括第一旋转支撑物以及第一光电探测器阵列,所述第一旋转支撑物用于在所述第一光束的路径中可旋转地支撑所述偏振设备的第一偏振部件,所述第一光电探测器阵列设置在所述第一空间变化偏振元件下游,其中,所述第一光电探测器阵列沿着所述第一轴延伸,用于检测通过所述第一空间变化偏振元件传播的所述第一光束。
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