[实用新型]硅麦自动测试设备及其测试装置

说明书

本实用新型公开一种硅麦自动测试设备的测试装置，该测试装置包括减振底座和位于所述减振底座上的测试组件，所述减振底座包括叠层布置的第一基板、第一减振板和第二基板，所述测试组件位于所述第一基板上。本实用新型有利于提高硅麦的检测效率。此外，本实用新型还公开一种硅麦自动测试设备。

技术领域

本实用新型涉及电子元件测试设备技术领域，具体涉及一种硅麦自动测试设备及其测试装置。

背景技术

近年来，随着电子元件的高度集成及不断的升级细化，使得电子产品朝着小型化、低能耗、高精度及智能化的方向发展。而作为电子产品组成基础的各类电子元件，在工厂生产加工后，需对其电性能参数进行测试，以保证电子元件的安全性、稳定性及可靠性，进而保证电子产品的质量。

现有如硅麦自动测试设备一般是通过圆振进行自动上料，然后在测试装置上进行测试。但是，由于圆振在工作时产生的振动会影响测试装置测试硅麦的测试结果，需要圆振在测试装置测试硅麦时停止工作，从而导致现有的硅麦测试效率较低。

实用新型内容

本实用新型的主要目的在于提供一种硅麦自动测试设备及其测试装置，以解决背景技术中提出的技术问题。

为实现上述目的，本实用新型提出一种硅麦自动测试设备的测试装置，该测试装置包括减振底座和位于所述减振底座上的测试组件，所述减振底座包括叠层布置的第一基板、第一减振板和第二基板，所述测试组件位于所述第一基板上。

优选地，所述第一减振板为发泡硅胶材料制成。

优选地，所述第一基板的底部设置插装块，所述第一减振板上设置有供所述插装块穿过的第一避位缺口，所述第二基板上设置有供所述插装块穿过的第二避位缺口。

优选地，所述第二基板的底部围绕所述插装块设置有多个围板，所述围板朝向所述插装块的一侧面上设置有与所述插装块侧面贴合的第二减振板。

优选地，所述插装块的侧面上具有可容纳所述第二减振板部分区域的第一定位腔。

优选地，所述围板通过螺钉与所述第二基板连接，相邻两个所述围板通过螺钉连接。

优选地，所述第二基板的顶面具有可容纳所述第一减振板的第二定位腔。

优选地，所述测试组件包括设置在所述第一基板上的基座和设置在所述基座上并可沿竖直方向滑动的滑座，所述基座上设置有测试治具，所述滑座上设置有位于所述测试治具正上方的测试盖板。

优选地，所述第一基板上设置有与所述滑座连接的滑柱，所述插装块上具有供所述滑柱穿过的避位孔，所述插装块的底部设置有与所述滑柱传动连接的举升机构。

本实用新型进一步提出一种硅麦自动测试设备，该硅麦自动测试设备包括机台以及设置在所述机台上的振动式上料装置、测试装置、存储装置、转运装置和上述测试装置，所述转运装置用于依次在所述振动式上料装置、测试装置和存储装置之间运输物料，该测试装置包括减振底座和位于所述减振底座上的测试组件，所述减振底座包括叠层布置的第一基板、第一减振板和第二基板，所述测试组件位于所述第一基板上。

本实用新型实施例提供的硅麦自动测试设备的测试装置，通过在第一基板与第二基板之间设置第一减振板，避免机台上因圆振产生的振动传递到检测组件上，从而即可实现圆振不停机检测硅麦，从而有利于提高硅麦的检测效率。

附图说明

图1为本实用新型中硅麦自动测试设备的测试装置一实施例的结构示意图；

图2为图1中所示减振底座的爆炸示意图；

图3为图2中所示第一基板和插装块的结构示意图；

图4为图2中所示第一减振板的结构示意图；

图5为图2中所示第二基板的结构示意图；