[实用新型]一种半导体电路检查装置

权利要求书

1.一种半导体电路检查装置，包括第一装置外壳(1)顶针(11)和第四装置外壳(19)，其特征在于：所述第一装置外壳(1)内部两端顶端与底端皆开设有第一滑槽(5)，且第一滑槽(5)的内部皆竖直安装有导杆(6)，所述导杆(6)的外侧皆设置有第一弹簧(21)，且第一弹簧(21)顶端导杆(6)的外侧皆设置有第二滑块(22)，所述第一滑槽(5)顶端第一装置外壳(1)的内壁皆开设有第一凹槽(8)，且第一凹槽(8)的内部皆铰接有铰接板(7)，所述铰接板(7)远离第一装置外壳(1)内壁的一端铰接有第三装置外壳(12)，且第三装置外壳(12)的内部安装有电路板(2)，所述铰接板(7)底端皆铰接有与第二滑块(22)相铰接的伸缩杆(23)，且伸缩杆(23)的外侧皆设置有第二弹簧(24)，所述第一装置外壳(1)的外侧均匀安装有减震气囊(3)，且减震气囊(3)远离第一装置外壳(1)一端安装有橡胶外壳(4)，所述橡胶外壳(4)两端的底端皆安装有卡块(16)，且卡块(16)的内部皆设置有第二装置外壳(10)，所述第二装置外壳(10)顶端的两端皆开设有第二凹槽(25)，且第二凹槽(25)内部两侧皆横向安装有转杆(28)，所述转杆(28)外侧的两侧皆设置有第二转块(26)，且第二转块(26)远离第二装置外壳(10)一端皆安装有卡爪板(9)。

2.根据权利要求1所述的一种半导体电路检查装置，其特征在于：所述第二装置外壳(10)的外侧皆粘贴有第二橡胶垫(18)，所述第二装置外壳(10)底端通过轴承安装有贯穿至第二装置外壳(10)内部的第四装置外壳(19)，且第四装置外壳(19)内部皆设置有贯穿至第二装置外壳(10)顶端的顶针(11)。

3.根据权利要求1所述的一种半导体电路检查装置，其特征在于：所述第二装置外壳(10)的底端开设有第二滑槽(20)，且第二滑槽(20)内部皆设置有贯穿第二装置外壳(10)底端与第一转块(14)顶端相连接的第一滑块(13)。

4.根据权利要求2所述的一种半导体电路检查装置，其特征在于：所述顶针(11)底端皆安装有贯穿橡胶外壳(4)与电路板(2)相连接的导线(15)，且电路板(2)通过导线(15)与顶针(11)电性连接。

5.根据权利要求2所述的一种半导体电路检查装置，其特征在于：所述第四装置外壳(19)的底端安装有第一转块(14)，且第一转块(14)的外侧皆粘贴有第一橡胶垫(17)。

6.根据权利要求1所述的一种半导体电路检查装置，其特征在于：所述转杆(28)的外侧设置有第三弹簧(27)，且第三弹簧(27)一端与第二转块(26)相连接，所述第三弹簧(27)远离第二转块(26)一端与第二凹槽(25)内部底端相连接。