[实用新型]一种用于检测设备的抬升机构有效
| 申请号： | 202023047023.8 | 申请日： | 2020-12-17 |
| 公开（公告）号： | CN213459651U | 公开（公告）日： | 2021-06-15 |
| 发明（设计）人： | 宋卫东;郑兵 | 申请（专利权）人： | 深圳市富海鸿科技有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/66 | 分类号： | H01L21/66;H01L21/687 |
| 代理公司： | 深圳三贤和新专利代理事务所(普通合伙) 44705 | 代理人： | 应勤兵 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 用于 检测 设备 抬升 机构 | ||
【权利要求书】：
1.一种用于检测设备的抬升机构，包括支架，其特征在于：所述支架的一侧设有与支架滑移配合的滑移结构，所述支架的上方设有用于支撑主板的抬升架，所述支架的表面设有若干表面为斜面的抬升块，所述抬升架上设有与所述抬升块表面抵接的滑轮；
还设有用于驱动所述支架作水平方向运动的驱动器，所述支架的运动方向与抬升块表面的倾斜方向相同。
2.如权利要求1所述的一种用于检测设备的抬升机构，其特征在于：所述抬升块的表面设有定位面，所述定位面与斜面连接、并与水平面平行。
3.如权利要求1或2所述的一种用于检测设备的抬升机构，其特征在于：所述滑移结构包括与支架固定连接的滑块，所述滑块上穿设有滑杆，滑杆的两端设有定位座。
4.如权利要求1或2所述的一种用于检测设备的抬升机构，其特征在于：所述支架与抬升架均呈矩形结构，抬升块具有至少4个。
5.如权利要求1或2所述的一种用于检测设备的抬升机构，其特征在于：所述支架上开设有用于固定抬升块的定位槽，所述抬升块通过紧固件与所述定位槽固定连接。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
