[实用新型]一种镀膜涂层膜厚仪

说明书

本实用新型公开了一种镀膜涂层膜厚仪，涉及膜厚仪技术领域，为解决现有的一些涂层膜厚仪在使用时，结构单一，导致检测准确性下降的问题。所述手握载体结构的上端安装有内螺纹槽，所述手握载体结构的上方设置有膜厚检测结构，所述膜厚检测结构的前端面安装有反馈显示器，所述反馈显示器的一侧设置有复位按钮，所述膜厚检测结构的上方安装有限位结构，所述限位结构的一侧设置有圆形接口，所述圆形接口的上方安装有易弯连接线结构，所述易弯连接线结构的一端设置有手持头，所述手持头的一侧安装有检测头，所述膜厚检测结构的内部设置有控制电路板，所述控制电路板的一侧安装有接受处理器，所述接受处理器的一侧设置有电源。

技术领域

本实用新型涉及膜厚仪技术领域，具体为一种镀膜涂层膜厚仪。

背景技术

膜厚测试仪，分为手持式和台式二种，手持式又有磁感应镀层测厚仪，电涡流镀层测厚仪，荧光X射线仪镀层测厚仪。手持式的磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度，台式的荧光X射线膜厚测试仪，是通过一次X射线穿透金属元素样品时·产生低能量的光子，俗称为二次荧光，在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值，采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基膜厚测试仪 体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度，覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小，利用磁感应原理的测厚仪，原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度，一般要求基材导磁率在500以上。

但是随着膜厚仪的使用，现有的一些涂层膜厚仪在使用时，结构单一，导致检测准确性下降；因此，不满足现有的需求，对此我们提出了一种镀膜涂层膜厚仪。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种镀膜涂层膜厚仪，以解决上述背景技术中提出的现有的一些涂层膜厚仪在使用时，结构单一，导致检测准确性下降的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种镀膜涂层膜厚仪，包括手握载体结构，所述手握载体结构的上端安装有内螺纹槽，所述手握载体结构的上方设置有膜厚检测结构，所述膜厚检测结构的前端面安装有反馈显示器，所述反馈显示器的一侧设置有复位按钮，所述膜厚检测结构的上方安装有限位结构，所述限位结构的一侧设置有圆形接口，所述圆形接口的上方安装有易弯连接线结构，所述易弯连接线结构的一端设置有手持头，所述手持头的一侧安装有检测头，所述膜厚检测结构的内部设置有控制电路板，所述控制电路板的一侧安装有接受处理器，所述接受处理器的一侧设置有电源，所述电源的一侧安装有散热器，所述散热器的一端设置有散热口，所述易弯连接线结构的内部安装有数据传输线，所述检测头的内部设置有检测传递器，所述检测传递器的下方安装有检测磁头。

优选的，所述手握载体结构的内部安装有缓震橡胶结构，且缓震橡胶结构与手握载体结构的内部固定连接。

优选的，所述膜厚检测结构的下端设置有插槽，且插槽与膜厚检测结构的下端固定连接。

优选的，所述限位结构的内部安装有矩形接口，且矩形接口与限位结构的内部固定连接。

优选的，所述易弯连接线结构的内壁设置有锡箔绝缘层，且锡箔绝缘层与易弯连接线结构的内壁固定连接。

优选的，所述电源与接受处理器的之间安装有电线线路，且接受处理器与电源电性连接。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1、本实用新型与普通的膜厚仪不同的是，设置的手握载体结构和手持头相互配合，可以很好的对镀膜涂层进行检测的，利用易弯连接线结构，可以很好的对平面角度不同的镀膜涂层进行检测，增加灵活性能，从而提高检测的准确度，提升检测的稳定性。

2、通过设置的锡箔绝缘层和散热口，可以很好的保护内部的传输线，不受外界的磁场影响，增加稳定性，利用散热口，可以很好的散去内部的热量，提升电子元件的使用寿命。

附图说明