[实用新型]晶圆托盘组件和等离子体加工设备有效

专利信息
申请号: 202022765835.X 申请日: 2020-11-25
公开(公告)号: CN213278041U 公开(公告)日: 2021-05-25
发明(设计)人: 张彬彬;苏财钰;张涛;苟先华;肖峰 申请(专利权)人: 重庆康佳光电技术研究院有限公司
主分类号: H01L21/673 分类号: H01L21/673;H01L21/67;H01J37/20;H01J37/32
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 熊永强
地址: 402760 重庆市璧*** 国省代码: 重庆;50
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摘要:
搜索关键词: 托盘 组件 等离子体 加工 设备
【说明书】:

实用新型涉及一种晶圆托盘组件及等离子体加工设备,晶圆托盘组件包括托盘、放置平台和扩散件,放置平台设置在托盘上,放置平台设有第一数量的冷却气体通道;扩散件设置在放置平台上,并包括相背的第一表面和第二表面,第一表面开设有第一数量的第一通气孔,第二表面开设有第二数量的第二通气孔,第二数量大于第一数量,扩散件内还设有容腔,第一通气孔和第二通气孔均与容腔连通,第一通气孔与冷却气体通道对接,第二表面与一晶圆接触。能使得第二通气孔流出的冷却气体更为均匀,也可覆盖晶圆的更大面积,从而能对晶圆进行均匀的散热,晶圆局部冷却均匀,提高晶圆温度均匀性,进而提高等离子工艺的均匀性。

技术领域

本实用新型涉及等离子体制造技术领域,尤其涉及一种晶圆托盘组件和等离子体加工设备。

背景技术

在目前发光二极管(Light Emitting Diode,LED)、半导体等中的等离子体制造技术领域,通常使用晶圆托盘作为承载晶圆的载体,以达到温度控制、提高制造效率、传送晶圆的目的。晶圆被放置在晶圆托盘上,然后放入等离子体腔室中进行工艺处理。

在工艺过程中,等离子体中带电离子会对晶圆表面进行轰击从而造成温度升高,此时通常会利用冷却气体通入晶圆底部以冷却晶圆,但目前的晶圆托盘结构难以对晶圆进行均匀的散热,造成晶圆局部冷却不均匀、晶圆温度均匀性降低,进而影响等离子工艺的均匀性。

因此,如何对晶圆进行均匀的散热是亟需解决的问题。

实用新型内容

鉴于上述现有技术的不足,本申请的目的在于提供一种晶圆托盘组件和等离子体加工设备,旨在解决如何对晶圆进行均匀的散热的问题。

一种晶圆托盘组件,包括:

托盘;

放置平台,设置在所述托盘上,所述放置平台设有第一数量的冷却气体通道;以及

扩散件,设置在所述放置平台上,并包括相背的第一表面和第二表面,所述第一表面开设有所述第一数量的第一通气孔,所述第二表面开设有第二数量的第二通气孔,所述第二数量大于所述第一数量,所述扩散件内还设有容腔,所述第一通气孔和所述第二通气孔均与所述容腔连通,所述第一通气孔与所述冷却气体通道对接,所述第二表面与一晶圆接触。

通过设置扩散件,在扩散件的第一表面开设第一数量的第一通气孔,第二表面开设第二数量的第二通气孔,并通过容腔连通第一通气孔和第二通气孔,供应到冷却气体通道的冷却气体通过第一通气孔流入容腔,在容腔均匀分散后再通过第二通气孔通入到晶圆的表面,由于冷却气体在容腔进行了再次均匀,并且通过设置第二数量大于第一数量,能使得第二通气孔流出的冷却气体更为均匀,也可覆盖晶圆的更大面积,从而能对晶圆进行均匀的散热,晶圆局部冷却均匀,提高晶圆温度均匀性,进而提高等离子工艺的均匀性。

可选的,所述第一数量大于等于1,所述第二数量大于等于2,且所述第二数量的所述第二通气孔在所述第二表面均匀布置。通过设置第一数量大于等于,第二数量大于等于,能使得冷却气体的供应线路简化,加快冷却气体的供应速度,提高对晶圆的冷却散热效率,并且第二通气孔能对应到晶圆的尽可能大的面积,增大冷却均匀性。

可选的,所述第二数量的所述第二通气孔在所述第二表面呈环形阵列地排布,并自所述第二表面的中心向四周呈放射状。可使得第二通气孔在第二表面分布均匀,对应的可对晶圆进行均匀的冷却散热。

可选的,所述第二通气孔的孔径小于所述第一通气孔孔径。第一通气孔的孔径更大些,能加大经冷却气体通道流到扩散件的容腔的冷却气体的流量,而第二通气孔的孔径更小些,能使得容腔经第二通气孔流到第二表面,也即晶圆表面的冷却气体的流速更快,可加快晶圆的冷却速度。

可选的,所述晶圆托盘组件还包括密封圈,所述密封圈设置在所述放置平台,并围设在所述扩散件的外周,所述密封圈用于与所述晶圆连接以密封。设置密封圈,从而将放置平台和晶圆之间的扩散件完全密封,防止冷却气体泄漏到进行等离子体工艺的腔室中。

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