[实用新型]晶圆托盘组件和等离子体加工设备有效
| 申请号: | 202022765835.X | 申请日: | 2020-11-25 |
| 公开(公告)号: | CN213278041U | 公开(公告)日: | 2021-05-25 |
| 发明(设计)人: | 张彬彬;苏财钰;张涛;苟先华;肖峰 | 申请(专利权)人: | 重庆康佳光电技术研究院有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/673 | 分类号: | H01L21/673;H01L21/67;H01J37/20;H01J37/32 |
| 代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 熊永强 |
| 地址: | 402760 重庆市璧*** | 国省代码: | 重庆;50 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 托盘 组件 等离子体 加工 设备 | ||
1.一种晶圆托盘组件,其特征在于,包括:
托盘;
放置平台,设置在所述托盘上,所述放置平台设有第一数量的冷却气体通道;以及
扩散件,设置在所述放置平台上,并包括相背的第一表面和第二表面,所述第一表面开设有所述第一数量的第一通气孔,所述第二表面开设有第二数量的第二通气孔,所述第二数量大于所述第一数量,所述扩散件内还设有容腔,所述第一通气孔和所述第二通气孔均与所述容腔连通,所述第一通气孔与所述冷却气体通道对接,所述第二表面与一晶圆接触。
2.如权利要求1所述的晶圆托盘组件,其特征在于,所述第一数量大于等于1,所述第二数量大于等于2,且所述第二数量的所述第二通气孔在所述第二表面均匀布置。
3.如权利要求2所述的晶圆托盘组件,其特征在于,所述第二数量的所述第二通气孔在所述第二表面呈环形阵列地排布,并自所述第二表面的中心向四周呈放射状。
4.如权利要求1所述的晶圆托盘组件,其特征在于,所述第二通气孔的孔径小于所述第一通气孔孔径。
5.如权利要求1所述的晶圆托盘组件,其特征在于,所述晶圆托盘组件还包括密封圈,所述密封圈设置在所述放置平台,并围设在所述扩散件的外周,所述密封圈用于与所述晶圆连接以密封。
6.如权利要求1所述的晶圆托盘组件,其特征在于,所述扩散件为热敏膨胀记忆合金材料,所述第一通气孔和所述第二通气孔在受热时孔径增大。
7.如权利要求1至6任一项所述的晶圆托盘组件,其特征在于,所述晶圆托盘组件还包括保护罩,所述保护罩罩设在所述托盘上,并在与所述放置平台对应的位置设有镂空区域,所述镂空区域用于容置所述晶圆。
8.如权利要求7所述的晶圆托盘组件,其特征在于,所述托盘上设有第一配合件,所述保护罩设有第二配合件,所述第一配合件和所述第二配合件配合连接。
9.如权利要求7所述的晶圆托盘组件,其特征在于,所述保护罩设有限位部,所述限位部设置在所述镂空区域的四周,用于限制所述晶圆的位置。
10.一种等离子体加工设备,其特征在于,包括如权利要求1至9任一项所述的晶圆托盘组件。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





