[实用新型]一种兼容多种规格光模块老化测试的装置

说明书

本实用新型公开了一种兼容多种规格光模块老化测试的装置，包括测试板，还包括若干类型子测试板，所述测试板设有若干组主板数据接口；所述若干类型子测试板中任意一个类型的子测试板的一端设有子板数据接口，另一端设有光模块数据接口；所述若干类型子测试板中任意两个不同类型的子测试板的光模块数据接口不同；所述若干类型子测试板中任意一个类型的子测试板的子板数据接口与测试板的若干组主板数据接口中任意一组主板数据接口相连接，光模块数据接口用于与需测试的相匹配的光模块连接。其有益效果是：采用一个装置，实现对多种规格的光模块测试，降低生产研发成本，提高生产效率。

技术领域

本实用新型涉及光模块老化测试装置技术领域，具体涉及一种兼容多种规格光模块老化测试的装置。

背景技术

光模块产品在出货之前必须进行老化测试，以保证产品的使用可靠性。光模块有各种不同的封装接口形式，以往需要为每种光模块单独设计一种老化测试板，光模块老化测试板通用性差，难以满足多种规格光模块的测试，大大增加了研发成本和降低了生产效率。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是光模块老化测试板通用性差，难以满足多种规格光模块的测试，目的在于提供一种兼容多种规格光模块老化测试的装置，采用一个装置，实现对多种规格的光模块测试，降低生产研发成本，提高生产效率。

本实用新型通过下述技术方案实现：

一种兼容多种规格光模块老化测试的装置，包括测试板，还包括若干类型子测试板，所述测试板设有若干组主板数据接口；所述若干类型子测试板中任意一个类型的子测试板的一端设有子板数据接口，另一端设有光模块数据接口；所述若干类型子测试板中任意两个不同类型的子测试板的光模块数据接口不同；所述若干类型子测试板中任意一个类型的子测试板的子板数据接口与测试板的若干组主板数据接口中任意一组主板数据接口相连接，光模块数据接口用于与需测试的相匹配的光模块连接。

通过采用若干类型子测试板，来实现对不同规格的光模块老化测试，测试时，根据需要测试的光模块规格，选用相应的子测试板，将光模块连接于子测试板的光模块数据接口，然后再将子测试板的子板数据接口与测试板的主板数据接口连接，即可进行测试。同时，通过设计若干组主板数据接口，可以实现一次性多个光模块，多个类型光模块的老化测试，大大提高测试效率，使得生产效率提高。

进一步地，所述测试板设有若干组主板数据接口的任意两组主板数据接口相同；所述若干类型子测试板中任意两个不同类型的子测试板的子板数据接口相同。

将测试板的所有主板数据接口设计相同，与其匹配的所有类型的子测试板的子板数据接口设计相同，使得通用性进一步提高，测试安装更加快捷，生产效率进一步提高。

进一步地，所述测试板设有若干组主板数据接口的至少两组主板数据接口不相同；所述若干类型子测试板中至少两个不同类型的子测试板的子板数据接口不相同。

将一些特殊光模块的子测试板设计专用接口，测试板上设计相匹配的专用主板数据接口，可以快速找到相应的测试位，快速进行定位装配测试。

进一步地，所述测试板设有五组接口，设有五个类型的子测试板，五个类型的子测试板的子板数据接口相同，光模块数据接口不同。

根据生产实际，将测试板设计五组接口，子测试板设计五个类型，可以满足大部分的光模块老化测试，同时，进一步控制生产成本。

进一步地，所述四个类型的子测试板的光模块数据接口分别为用于CFP光模块的数据接口、用于CFP2光模块的数据接口、用于QSFP28光模块的数据接口、用于QSFPDD光模块的数据接口和用于SFP28光模块的数据接口。