[实用新型]激光器测试系统

说明书

本实用新型公开了一种激光器测试系统，其包括：PIV测试单元、光谱测试单元和激光器安装单元，其中，所述激光器安装单元至少用于固定被测激光器；所述PIV测试单元与被测激光器电连接，并能够向所述被测激光器提供电流而使被测激光器发光；以及，所述PIV测试单元还能够接收所述激光器发出的光并获得所述光的发光功率和电压；所述光谱测试单元与被测激光器连接，并能够接收被测激光器发出的光并获得所述光的发光光谱。本实用新型提供的激光器测试系统，可以同时测试并获得DFB激光器的光谱和PIV光学参数，而不需要繁琐复杂的切换，大大节约了测试成本。

技术领域

本实用新型涉及一种测试系统，特别涉及一种激光器测试系统，属于半导体测试技术领域。

背景技术

半导体激光器具有体积小、重量轻、电光转换效率高、性能稳定、可靠性高和寿命长等优点，已经成为光电行业中最有发展前途的领域，可广泛应用于通信、计算机(主要是数据存储和输入输出设备)、影视、制造业、航天、航空、材料处理、医疗、娱乐、科研、安全防护、军事、反恐、工艺品、显示和印刷等行业。

光纤通信的问世，使高速率、大容量的通信成为可能，目前已经成为最主要的信息传输技术。分布反馈式半导体激光器(Distributed Feedback Semiconductor Laser，DFB)具有体积小、效率高、重量轻等优点，是光纤通信的主要光源，对半导体激光器的性能参数进行测试和表征是深刻理解激光器特性的关键，同时也是判断激光器好坏的重要依据；只有这样才能正确的使用激光器并延长其寿命。因此，研究并开发测试功能齐全的半导体激光器特性测试系统具有非常重要的现实意义。

实用新型内容

本实用新型的主要目的在于提供一种激光器测试系统，以克服现有技术中的不足。

为实现前述实用新型目的，本实用新型采用的技术方案包括：

本实用新型实施例提供了一种激光器测试系统，其包括：PIV测试单元、光谱测试单元和激光器安装单元，其中，

所述激光器安装单元至少用于固定被测激光器；所述PIV测试单元与被测激光器电连接，并能够向所述被测激光器提供电流而使被测激光器发光；以及，所述PIV测试单元还能够接收所述激光器发出的光并获得所述光的发光功率和电压；

所述光谱测试单元与被测激光器连接，并能够接收被测激光器发出的光并获得所述光的发光光谱。

与现有技术相比，本实用新型的优点包括：

本实用新型实施例提供的一种激光器测试系统，结构简单实用、制作成本低且灵活度高，能够快速获取激光器的性能参数；

本实用新型实施例提供的一种激光器测试系统，可以同时测试并获得DFB激光器的光谱和PIV光学参数，而不需要繁琐复杂的切换，大大节约了测试成本。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本实用新型一典型实施案例中提供的一种激光器测试系统的结构示意图；

图2是本实用新型一典型实施案例中提供的一种激光器测试系统局部结构示意图。

具体实施方式

鉴于现有技术中的不足，本案发明人经长期研究和大量实践，得以提出本实用新型的技术方案。如下将对该技术方案、其实施过程及原理等作进一步的解释说明。

本实用新型实施例提供了一种激光器测试系统，其包括：PIV测试单元、光谱测试单元和激光器安装单元，其中，