[实用新型]一种恒温激光粒度分析仪检测设备

说明书

一种恒温激光粒度分析仪检测设备，包括自动循环进样器（1）、激光器（2）、透镜和空间滤波器（3）、准直镜（4）、恒温装置（5）、测量池（6）、傅立叶透镜（7）、大角探测器阵列（8）、中心探测器（9）、环形探测器阵列（10）和数据采集器（11）。所述恒温装置为闭式恒温循环水槽，内置循环水泵和外循环接口，可向外输出恒温水流；所述恒温循环水槽由高性能CPU处理芯片和高灵敏度、高精度铂电阻传感器构成的温度控制系统使温度控制精准。本设备在现有的激光粒度分析仪上进行升级改造，在测量池上加一个恒温装置，可以在测量粒度的过程中维持水温的恒定，杜绝水汽的产生，提高了激光粒度分析仪测量的稳定性及准确性。

技术领域

本实用新型涉及一种恒温激光粒度分析仪检测设备，属非金属无机粉体粒度检测技术领域。

背景技术

粒度分布是粉体产品最重要的技术指标之一，在传统的粒度测量方法中，以过筛方法最为常见。用筛分的方法分析粉体，存在明显的局限性。随着科学技术的进步，人们对粒度测量的要求越来越高，同时也出现了很多种新型的、集多门现代科学技术为一体的粒度测量仪器，比如激光粒度分析仪、库尔特计数器、颗粒图像处理仪、离心沉降仪等等。

激光粒度分析仪是目前使用领域最广的粒度分析仪。激光粒度分析仪对分散介质及外部环境要求低，常规实验室环境就可以达到激光粒度分析仪的使用环境要求，所以，现在的激光粒度分析仪一般都是用纯净水或自来水做分散介质。自来水的温度会因气候的变化而变化，自来水作为激光粒度分析仪的分散介质，因温差在测量过程中会产生水汽，直接影响激光粒度分析仪检测的准确性。

发明内容

本实用新型的目的是，针对现有激光粒度分析仪检测存在的问题和不足，公开一种恒温激光粒度分析仪检测设备。

本实用新型实现的技术方案如下，一种恒温激光粒度分析仪检测设备，包括自动循环进样器、激光器、透镜和空间滤波器、准直镜、恒温装置、测量池、傅立叶透镜、大角探测器阵列、中心探测器、环形探测器阵列和数据采集器。所述恒温装置设置在测量池外，并联接在测量池两端，能使被恒温的样水与恒温循环水进行逆向热交替，维持水温的恒定，杜绝水汽产生；恒温装置用于对激光粒度分析仪检测设备的水温恒定，能消除温度变化对激光粒度分析仪检测设备测量值的影响。

自动循环进样器将粉体样品送入测量池；所述激光器发出的激光束经透镜聚焦、空间滤波器滤波和准直镜后，变成平行光束；经恒温装置照射到测量池内待测的粉体样品颗粒上，一部分光被散射；散射光经傅立叶透镜后，照射到光电探测器阵列上；光电探测器阵列将投射到上面的散射光能线性地转换成电压，然后传送给数据采集卡；中心探测器用以测量未被散射的光能量，经环形探测器阵列接收未被散射的光转换成电压传送给数据采集卡。

所述自动循环进样器是一个立式圆筒形结构，粉体样品由自动循环进样器进入测量池。

所述激光器发出的激光束经透镜聚焦、针孔滤波和准直镜准直后，变成直径为10mm的平行光束。

所述光电探测器阵列由一系列同心环带组成，每一环带是一个独立的探测器，能将投射到上面的散射光能线性地转换成电压。

所述数据采集卡，该卡将电信号放大并经A/D转换，变成数字信号后送入计算机。

所述中心探测器用以测量未被散射的光能量，通过测量和计算测量池中无颗粒样品和有颗粒样品时的光能之差，评估样品的体积浓度。

所述环形探测器阵列用于接收散射光，改进大角探测器阵列上散射光的聚集精度，使散射光在任何探测单元上都能良好聚焦。

所述测量池由恒温装置包裹，保障测量池工作时处于恒温状态。

所述恒温装置为闭式恒温循环水槽，内置循环水泵和外循环接口，可向外输出恒温水流；所述恒温循环水槽由高性能CPU处理芯片和高灵敏度、高精度铂电阻传感器构成的温度控制系统使温度控制精准。