[实用新型]一种集成电路测试用集成电路板除尘设备

说明书

本实用新型公开了一种集成电路测试用集成电路板除尘设备，属于集成电路领域，包括箱体，所述箱体内侧壁开设有凹槽，所述凹槽内部滑动连接有横块，所述横块一端固定连接有横杆，所述横杆底部开设有内槽A，所述内槽A内部两侧开设有内槽B，所述滑块B固定连接在滑块A两侧，所述滑块A底部可拆卸连接有毛刷，连接块则带动其一端可拆卸连接的横杆进行推动，横杆通过内部开设的内槽A和内槽B与滑块A和滑块B进行配合连接，整体呈T型结构，增加了稳定性，通过滑块A底部可拆卸连接的毛刷对底部的集成电路板进行快速除尘，集成电路测试用集成电路板除尘设备其进行除尘作业时的效率较高，节约了大量时间，提高了效率。

技术领域

本实用新型涉及集成电路领域，尤其涉及一种集成电路测试用集成电路板除尘设备。

背景技术

20世纪50年代后期一60年代发展起来的一种新型半导体器件。它是经过氧化、光刻、扩散、外延、蒸铝等半导体制造工艺，把构成具有一定功能的电路所需的半导体、电阻、电容等元件及它们之间的连接导线全部集成在一小块硅片上，然后焊接封装在一个管壳内的电子器件。其封装外壳有圆壳式、扁平式或双列直插式等多种形式。集成电路技术包括芯片制造技术与设计技术，主要体现在加工设备，加工工艺，封装测试，批量生产及设计创新的能力上。

专利号CN201194023Y本实用新型提供一种集成电路测试装置，包括夹具头、测试针模、测试电路板、控制开关和电源。集成电路放置于测试针模上，测试针模内具有探针，测试电路板与探针电性连接。当夹具头处于第一位置时，控制开关与电源导通，并且夹具头压于测试针模上，使集成电路与探针电性导通，构成测试电路，此时集成电路处于测试状态，实现集成电路的测试。当夹具头处于第二位置时，控制开关与电源断开，集成电路与探针分离，且测试电路断开，此时集成电路处于未测试状态，集成电路中没有电流通过，避免了现有技术中集成电路与测试探针一直导通或者部分引脚导通而容易损坏探针和集成电路的问题，保护了集成电路，提高了集成电路的良率。

然而，在现有的集成电路测试用集成电路板除尘设备使用过程中存在一些问题，1、目前市面上的集成电路测试用集成电路板除尘设备其进行除尘作业时的效率较低，从而浪费了大量时间，继而降低了效率，2、目前市面上的集成电路测试用集成电路板除尘设备对集成电路的固定性较差，从而使其容易出现检测事故。

实用新型内容

本实用新型提供一种集成电路测试用集成电路板除尘设备，旨在采用拼接式结构，通过箱体内侧底部固定连接的横板表面开设的模槽对集成电路进行安放，通过横板表面的卡扣对压板进行调节按压角度，即可通过压板对模槽中的集成电路进行固定。

本实用新型提供的具体技术方案如下：

本实用新型提供的一种集成电路测试用集成电路板除尘设备，包括箱体，所述箱体内侧壁开设有凹槽，所述凹槽内部滑动连接有横块，所述横块一端固定连接有横杆，所述横杆底部开设有内槽A，所述内槽A内部两侧开设有内槽 B，所述内槽A内部滑动连接有滑块A，所述内槽B内部滑动连接有滑块B，所述滑块B固定连接在滑块A两侧，所述滑块A底部可拆卸连接有毛刷。

可选的，所述箱体内侧顶部固定连接有竖板，所述竖板一侧可拆卸连接有电动伸缩杆，所述电动伸缩杆一端可拆卸连接有连接块，所述连接块一端可拆卸连接有横杆。

可选的，所述箱体两侧内部开设有开槽，所述开槽内部可拆卸连接有隔音棉，所述隔音棉由离心玻璃棉制成。

可选的，所述箱体内侧底部固定连接有横板，所述横板表面开设有模槽。

可选的，所述模槽内部配合连接有压板，所述压板顶部可拆卸连接有卡扣，所述卡扣一端配合连接在横板表面，所述箱体表面两侧固定连接有横柱。

可选的，所述箱体一侧可拆卸连接有控制开关，所述电动伸缩杆外接电源电流输入端通过控制开关连接有外接电源电流输出端。

本实用新型的有益效果如下：