[实用新型]一种半导体遮覆板高度量测平台

权利要求书

1.一种半导体遮覆板高度量测平台，包括测量平台(1)，其特征在于：所述测量平台(1)上表面中心位置开设有凹槽(10)，所述测量平台(1)两侧中心位置对称设有立柱(3)，两个所述立柱(3)相互对立的一侧开设有滑槽(31)，每个所述立柱(3)的侧面上均设有刻度值(30)，两个所述立柱(3)顶部通过横梁(4)连接，所述横梁(4)上表面中心安装有电动伸缩杆(5)，所述电动伸缩杆(5)的活动臂贯穿横梁(4)，且末端上设有量测卡板(50)，所述量测卡板(50)两端均设有滑块(500)，所述量测卡板(50)侧面靠近底部边缘处对称设有指针(501)，所述凹槽(10)上方设有活动板(7)，所述活动板(7)上表面中心位置开设有T型槽(70)，所述T型槽(70)中心位置设有滑柱(700)，所述T型槽(70)上方设有夹板(71)，所述夹板(71)下表面与T型槽(70)对应的位置还设有T型块(710)，所述T型块(710)中心位置开设有圆孔(7100)，所述滑柱(700)穿过圆孔(7100)，所述T型块(710)左侧面上还设有弹簧(711)，所述滑柱(700)从弹簧(711)中穿过，所述活动板(7)下表面中心位置设有凸块(72)，所述凸块(72)中心位置设有螺纹孔(720)，所述凹槽(10)中还设有螺纹杆(6)，所述螺纹杆(6)穿过螺纹孔(720)，所述螺纹杆(6)末端延伸出测量平台(1)，且末端上设有摇把(60)。

2.根据权利要求1所述的半导体遮覆板高度量测平台，其特征在于：所述测量平台(1)下表面靠近四个拐角处均设有支撑脚(2)，所述支撑脚(2)与测量平台(1)通过螺栓固定连接。

3.根据权利要求1所述的半导体遮覆板高度量测平台，其特征在于：所述立柱(3)与测量平台(1)为一体成型结构，所述横梁(4)通过螺栓与立柱(3)固定连接。

4.根据权利要求1所述的半导体遮覆板高度量测平台，其特征在于：所述电动伸缩杆(5)通过螺栓与横梁(4)固定连接，所述电动伸缩杆(5)上的活动臂与量测卡板(50)为一体成型结构，所述滑块(500)与量测卡板(50)为一体成型结构，所述滑块(500)的宽度与滑槽(31)的宽度相适配，所述指针(501)与量测卡板(50)为一体成型结构。

5.根据权利要求1所述的半导体遮覆板高度量测平台，其特征在于：所述螺纹杆(6)一端上套设有轴承，轴承的内圈与螺纹杆(6)粘接固定，轴承的外圈与测量平台(1)粘接固定，所述摇把(60)与螺纹杆(6)为一体成型结构。

6.根据权利要求1所述的半导体遮覆板高度量测平台，其特征在于：所述T型槽(70)的宽度与T型块(710)的宽度相适配，所述滑柱(700)与活动板(7)粘接固定，所述弹簧(711)一端与T型块(710)粘接固定，所述弹簧(711)的另一端与T型槽(70)内壁粘接固定，所述凸块(72)与活动板(7)为一成型结构，所述螺纹孔(720)的孔径与螺纹杆(6)的直径相适配。