[实用新型]一种半导体测试机和针测机的压合装置有效
| 申请号: | 202021018909.7 | 申请日: | 2020-06-05 |
| 公开(公告)号: | CN212209450U | 公开(公告)日: | 2020-12-22 |
| 发明(设计)人: | 卞杰锋 | 申请(专利权)人: | 苏州全威电子科技有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683;H01L21/66 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 215000 江苏省苏州市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 半导体 测试 针测机 装置 | ||
1.一种半导体测试机和针测机的压合装置,包括测试载台(1),其特征在于:所述测试载台(1)的顶部开设有测试槽(9),所述测试槽(9)的两侧皆开设有导向滑槽(3),所述导向滑槽(3)的内侧皆滑动安装有移动块(2),所述移动块(2)的顶部皆开设有转动孔(11),所述转动孔(11)的内侧皆活动插接有立杆(12),所述立杆(12)的顶部一侧固定安装有横向伸缩杆(4),所述横向伸缩杆(4)的底部皆固定安装有纵向伸缩杆(13),所述纵向伸缩杆(13)的底端皆固定安装有压盘(5)。
2.根据权利要求1所述的一种半导体测试机和针测机的压合装置,其特征在于:所述测试载台(1)的底部四个边角处皆开设有吸附槽(17),且吸附槽(17)的内侧皆固定安装有吸盘(14)。
3.根据权利要求1所述的一种半导体测试机和针测机的压合装置,其特征在于:所述测试槽(9)与导向滑槽(3)垂直方向的内壁贯穿活动安装有调节杆(16),所述调节杆(16)的表面和导向滑槽(3)贯穿处的内壁皆设置有螺纹,所述调节杆(16)相对的一端皆活动安装有转轴(7),所述转轴(7)相对的一端皆固定安装有夹持板(8),且夹持板(8)的宽度与测试槽(9)的宽度相同。
4.根据权利要求3所述的一种半导体测试机和针测机的压合装置,其特征在于:所述夹持板(8)相对的一侧表面皆粘贴设置有抵触垫(6),且抵触垫(6)的材质为具有良好收缩弹性的橡胶材质。
5.根据权利要求1所述的一种半导体测试机和针测机的压合装置,其特征在于:所述导向滑槽(3)内部设置的移动块(2)数量皆为两个。
6.根据权利要求3所述的一种半导体测试机和针测机的压合装置,其特征在于:所述调节杆(16)的外端皆固定安装有调节旋钮(15),且调节旋钮(15)的外沿皆设置有防滑纹路(10)。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





