[实用新型]一种半导体分立器件的耐压测试装置

说明书

本实用新型公开了一种半导体分立器件的耐压测试装置，包括底部组件与调节组件，所述调节组件固定安装在底部组件的顶部；所述底部组件包括壳体，所述壳体内壁的底部固定安装有耐压测试装置主体，所述壳体的右侧固定安装有操作面板，所述壳体顶部的中点处固定安装有中心引脚插块。本实用新型通过底部组件和调节组件的相互配合，使得半导体分立器件的耐压测试装置方便调节两个侧边引脚插块之间的间距，这样就可以很好地针对不同类型的半导体分立器件去进行耐压测试，还提升了半导体分立器件的耐压测试装置的抗震效果，有效避免半导体分立器件的耐压测试装置内的元器件因震动而损坏，实用性高，适合推广使用。

技术领域

本实用新型涉及半导体分立器件测试技术领域，具体为一种半导体分立器件的耐压测试装置。

背景技术

半导体分立器件，泛指半导体晶体二极管、半导体三极管简称三极管、三极管及半导体特殊器件，现有半导体分立器件在出厂之前需要进行各方面的电性能测试，现有半导体分立器件的耐压测试装置不方便调节引脚连接件的间距，不能很好地针对不同类型的半导体分立器件进行耐压测试，并且，现有半导体分立器件的耐压测试装置抗震效果不理想，实用性低。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种半导体分立器件的耐压测试装置，以解决背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种半导体分立器件的耐压测试装置，包括底部组件与调节组件，所述调节组件固定安装在底部组件的顶部；

所述底部组件包括壳体，所述壳体内壁的底部固定安装有耐压测试装置主体，所述壳体的右侧固定安装有操作面板，所述壳体顶部的中点处固定安装有中心引脚插块，所述壳体顶部的左右两侧均设置有侧边引脚插块，所述壳体的下方设置有减震板，所述减震板顶部左右两侧的凹槽内均固定安装有减震壳，所述减震壳内壁上滑动连接有活动板，所述活动板的顶部固定连接有减震杆，所述减震杆的顶端贯穿减震壳且延伸至其外部与壳体的底部固定连接，所述壳体底部的左右两侧均固定连接有减震弹簧，所述减震弹簧的底端与减震板的顶部固定连接；

所述调节组件包括固定安装在壳体顶部左侧的固定板，所述固定板右侧的凹槽内通过轴承固定安装有螺纹杆，所述螺纹杆的右端固定连接有把手，所述螺纹杆表面的左右两侧均螺纹连接有移动板，所述移动板靠近侧边引脚插块的一侧固定连接有连接杆，所述连接杆远离固定板的一侧固定连接有连接块，所述连接块靠近侧边引脚插块的一侧与其固定连接。

优选的，所述减震杆与减震壳之间活动连接。

优选的，所述轴承外环的表面与固定板固定连接，所述轴承内环的内壁与螺纹杆的表面固定连接。

优选的，所述螺纹杆表面的右侧活动安装有轴承座，所述轴承座的底部与壳体的顶部固定连接。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果如下：

1、本实用新型通过底部组件和调节组件的相互配合，使得半导体分立器件的耐压测试装置方便调节两个侧边引脚插块之间的间距，这样就可以很好地针对不同类型的半导体分立器件去进行耐压测试，还提升了半导体分立器件的耐压测试装置的抗震效果，有效避免半导体分立器件的耐压测试装置内的元器件因震动而损坏，实用性高，适合推广使用。

2、本实用新型通过设置轴承座，起到了稳固螺纹杆的作用，避免螺纹杆因承受较多的重量而发生弯折。

附图说明

图1为本实用新型正视图的结构剖面图；

图2为本实用新型俯视图的结构剖面图。