[实用新型]一种半导体封装用导热块的检测装置有效

专利信息
申请号: 202020960225.2 申请日: 2020-05-29
公开(公告)号: CN212459481U 公开(公告)日: 2021-02-02
发明(设计)人: 王岩 申请(专利权)人: 苏州密卡特诺精密机械有限公司
主分类号: G01N25/18 分类号: G01N25/18;H01L21/67
代理公司: 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 代理人: 殷増浩
地址: 215123 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 半导体 封装 导热 检测 装置
【说明书】:

本实用新型涉及一种半导体封装用导热块的检测装置,检测装置包括设备架、设于设备架上对导热块进行加热的加热单元、控制加热单元工作的电控单元,加热单元包括固定在设备架上的支撑组件、设于支撑组件上的导热座组件,导热座组件为导热块提供支撑和热量,加热单元还包括为导热座组件提供热量的加热器,加热器与电控单元电连接;本实用新型的半导体封装用导热块的检测装置,通过该检测装置的设置,可以在导热块装至产线之前判断导热块的导热性能是否合格,通过检测装置的设计,可以避免导热块进入产线后再对其进行性能测试,从而避免了在产线检测不合格之后,带来的调试、返工等问题,避免了高成本的支出,提高了企业的经济效益。

技术领域

本实用新型属于半导体封装制造领域,具体涉及一种半导体封装用导热块的检测装置。

背景技术

在半导体封装制造领域,半导体产品封装过程中,引线框架的加热焊接环节,引线框架通过流水线从加热装置的上方逐个通过从而逐个被加热,现有技术中的加热机构,包括位于底部的加装装置、设于加热平台装置上金属材质的金属导热台(金属导热台通常采用硬度较高的热处理钢材,以便长期与产品接触的情况下能够避免磨损),加热装置将热量传递至金属导热台上,产品从金属导热台上通过并与金属导热台接触受热,达到逐个加热的目的;而在大宽幅度的产品封装过程中,封装作业要求,宽幅范围内,引线框架点与点之间的温度差在±2度范围内,因此金属导热台的导热性能的好坏(有时金属导热台的平面度的丝毫偏差都会造成导热不均的情况),直接关系这产品质量的好坏,因此对金属导热台的导热性能进行检测是非常有必要的,现有技术中金属导热台在制作完成之后,都是直接装到产线上,然后再产线上进行试生产时,检测金属导热块的加热性能是否达标,如果符合导热要求,则不会产生多余的问题,如果不符合要求,需要调试,严重的还需要拆卸后返工,检测速度慢,费工费时,且造成生产成本增高。

发明内容

本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的不足,提供一种半导体封装用导热块的检测装置。

为解决上述技术问题,本实用新型采取的技术方案如下:

一种半导体封装用导热块的检测装置,检测装置包括设备架、设于设备架上对导热块进行加热的加热单元、控制加热单元工作的电控单元,加热单元包括固定在设备架上的支撑组件、设于支撑组件上的导热座组件,导热座组件为导热块提供支撑和热量,加热单元还包括为导热座组件提供热量的加热器,加热器与电控单元电连接。

优选地,导热座组件包括相固定连接的座体和卡接体,卡接体位于座体的上方中部。

优选地,卡接体与座体可拆卸连接。

优选地,座体上开设有两个第一埋设孔,加热器包括两根加热棒,两根加热棒埋分别设于两个第一埋设孔内。

优选地,第一埋设孔在座体的厚度方向上位于其中部偏下,第一埋设孔在座体的宽度方向位于其两侧。

优选地,座体上还开设有第二埋设孔,检测装置还包括用于实时测量座体温度的热电偶,热电偶与电控单元电连接,热电偶埋设于第二埋设孔。

优选地,检测装置还包括用于在导热块放置于与座体上时,对导热块进行稳固的稳固机构。

优选地,稳固机构包括位于座体宽度方向两侧的第一抵压件和第二抵压件,第一抵压件固定于座体的一侧,第二抵压件转动的设于座体的另一侧。

优选地,稳固机构还包括设于第二抵压件底部趋向于顶推第二抵压件转动,以使第二抵压件对导热块施加抵压力的弹性件。

优选地,支撑组件包括固定于设备架上的固定板、固定在固定板上的多个支撑块,多个支撑块间隔分布,导热座组件可拆卸的连接在多个支撑块上方。

由于以上技术方案的实施,本实用新型与现有技术相比具有如下优点:

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