[实用新型]时序控制器仿真测试设备

说明书

本实用新型提供了一种时序控制器仿真测试设备，包括：地面测试设备、上位机、直流电源以及DFC‑4转接盒；所述上位机与地面测试设备通过网线相连；所述直流电源分别与地面测试设备、DFC‑4转接盒相连；DFC‑4转接盒与地面测试设备相连。本实用新型采用基于PCI总线的模块化架构，模块通用性强，数据吞吐率高，保障了测试系统的数据完整性和可靠性。

技术领域

本实用新型涉及仿真测试技术领域，具体地，涉及时序控制器仿真测试设备。尤其地，涉及一种基于VxWorks FPGA PCI总线的时序控制器仿真测试设备。特别涉及一种航天设备的地面仿真测试设备，进一步涉及火箭时序控制器的地面仿真测试设备。

背景技术

时序控制器是火箭的重要组成部分，其主要功能是驱动火箭内部各类继电器及火工品，从而驱动执行机构。时序控制器如果工作异常，将会对火箭在发射过程中的正常运行构成极大威胁，甚至导致发射失败。为保证时序控制器在发射过程中的正常运行，在生产交付和火箭发射前都需要对其进行仿真测试。

时序控制器仿真测试设备是为火箭时序控制器的调试、检验、单元测试和老炼试验而设计的专用地面设备，用来在线编程时序控制器并检测其功能是否完整,各项指标是否满足技术要求。在单元测试时能自动地完成对时序控制器的仿真测试，与火箭控制计算机对接进行模拟或飞行软件测试时能实时记录飞行时串及时序控制器输出的电压量信号，并能将有关参数打印出来。时序控制器仿真测试设备主要功能是模拟发送各种测试信号并对时序控制器的工作情况进行监测、记录和分析。另外，时序控制器仿真测试设备能适应从设计，评审，各项验收及至发射前所有测试和试验任务包括各种典试，交付试验，老化试验和常规测试。

传统的时序控制器仿真测试设备采用的是X86+windows的架构，具有实时性差、通道有限(只能单通道轮流测试)、体积大、不便携等缺点。用此类时序控制器仿真测试设备对时序控制器进行测试，会降低测试的精度，增大多路并行输出信号测量的误差，影响对时序控制器的测试结果，进而影响整体火箭的正常运行。

专利文献CN104698370A(申请号：201310673808.1)一种芯片中电路的时序测试方法、装置及RTL仿真设备。所述方法包括：接收测试所述芯片中电路的时序的控制指令，并发送与所述控制指令对应的测试信号至待测试电路，所述测试信号与一条时序约束信息相对应，所述待测试电路的时序受所述时序约束信息的约束；获取所述待测试电路的测试结果；判断所述测试结果与预设的结果是否一致，并输出所判断的结果。

实用新型内容

针对现有技术中的缺陷，本实用新型的目的是提供一种时序控制器仿真测试设备。

根据本实用新型提供的一种时序控制器仿真测试设备，包括：

地面测试设备、上位机、直流电源以及DFC-4转接盒；

所述上位机与地面测试设备通过网线相连；

所述直流电源分别与地面测试设备、DFC-4转接盒相连；

DFC-4转接盒与地面测试设备相连。

优选地，所述地面测试设备包括：ARM控制模块ARM9-S1、指令采集模块ZLC-S1、数字I/O模块IOC-S1、RS-422通信模块RS422-S1、电源模块DFS-DC404G-HT、信号背板DFS-DB-S1以及机箱。

优选地，所述ARM控制模块ARM9-S、指令采集模块ZLC-S1、数字I/O模块IOC-S1、指令采集模块ZLC-S1、RS-422通信模块RS422-S1以及电源模块分别通过接插件连接在信号背板DFS-DB-S1并安装于机箱上。

优选地，所述直流电源与ARM控制模块相连。

优选地，所述ARM控制模块包括如下硬件资源和接口：

板载32M×32bit SDRAM内存；