[实用新型]一种地膜残留调查装置

说明书

本实用新型公开了一种地膜残留调查装置，该调查装置用于固定在大田采样样方边缘，所述调查装置包括：第一长条形块；第二长条形块；第三长条形块；第四长条形块；所述第一长条形块、第二长条形块、第三长条形块和第四长条形块依次搭接构成与大田采样样方匹配的采样框架结构，在进行土壤采样时，采样框架结构会压在样方边缘的部分土壤上，此时可沿着采样框架结构外向下挖沟，形成比样方略大的土壤框体，再逐渐向土壤框体削去样方多余的土壤，进而得到准确的样方土壤框体，从而可以提高采样的准确性。

技术领域

本实用新型涉及一种地膜残留调查装置，属于大田地膜残留调查技术领域。

背景技术

为了研究降解地膜的降解情况，常需要进行大田覆膜土壤的地膜残留取样试验。目前进行大田覆膜降解测试试验的过程为，在覆盖地膜的地块，待作物种植收获后，选取666.7 m²作为一个调查点，采样方法可以采用梅花点法或对角线法，划线采集5个规格为100 cm×100 cm正方形样方，测定0～30 cm土层的地膜残留量。当然，也可根据测试需要选取其它面积的样方，以及测量深度。然而，现有划线采集地膜残留样方的方法存在样方内土壤在挖取时易塌陷，从而造成无法准确测量样方地膜残留量的问题。

实用新型内容

基于上述，本实用新型提供一种地膜残留调查装置，以解决现有划线采集地膜残留样方的方法存在的样方内土壤在挖取时易塌陷，从而造成无法准确测量样方地膜残留量的问题。

本实用新型的技术方案是：一种地膜残留调查装置，该调查装置用于固定在大田采样样方边缘，所述调查装置包括：

第一长条形块；

第二长条形块；

第三长条形块；

第四长条形块；

所述第一长条形块、第二长条形块、第三长条形块和第四长条形块依次搭接构成与大田采样样方匹配的采样框架结构。

可选的，在所述第一长条形块、第二长条形块、第三长条形块和第四长条形块的两端搭接处均设有固定孔，在所述固定孔内安装有固定插件，将所述固定插件穿过所述固定孔插入到大田土壤中，以将所述采样框架结构固定在大田采样样方的边缘。

可选的，在所述第一长条形块上沿其长度方向设有若干个固定孔，在所述第二长条形块上沿其长度方向设有若干个固定孔，在所述第三长条形块上沿其长度方向设有若干个固定孔，在所述第四长条形块上沿其长度方向设有若干个固定孔。

可选的，若干个所述固定孔间隔均匀布置在所述第一长条形块、第二长条形块、第三长条形块或第四长条形块上。

可选的，所述固定插件包括尖形杆体和抽拉环，所述尖形杆体连接在所述抽拉环的底部。

可选的，在所述尖形杆体上沿其长度方向设有刻度尺寸。

可选的，所述第一长条形块、第二长条形块、第三长条形块和第四长条形块的宽度均为8～12cm。

本实用新型的有益效果是：由于第一长条形块、第二长条形块、第三长条形块和第四长条形块依次搭接构成与大田采样样方匹配的采样框架结构，因此在进行土壤采样时，采样框架结构会压在样方边缘的部分土壤上，此时可沿着采样框架结构外向下挖沟，形成比样方略大的土壤框体，逐渐向土壤框体削去样方多余的土壤，进而得到准确的样方土壤框体，从而可以提高采样的准确性。

附图说明

图1为本实用新型实施例地膜残留调查装置的结构示意图；

图2为固定插件的示意图；

图3为铲子的结构示意图；