[实用新型]测试模组及测试装置

说明书

本实用新型提供一种测试模组及测试装置，测试装置，应用于同时进行多个摄像头模组的测试，其包括处理器、母电路板及多个子电路板；处理器与所述母电路板电连接，母电路板分别与所述多个子电路板电连接；子电路板用于连接所述摄像头模组，处理器用于接收并保存测试指令，测指令包括测试参数，其中，所述测试参数为摄像头模组的工作参数；所述处理器还用于将所述测试指令通过所述母电路板、及所述子电路板输出至摄像头模组，以控制摄像头模组根据所述测试参数进行工作，以对所述摄像头模组进行测试。本实用新型提供的测试模组，可以同时测试多个摄像头模组，测试效率高，且可以进行脱机测试，多个测试模组只需要使用一台电脑，测试仪器成本低。

技术领域

本实用新型涉及一种产品测试领域，具体涉及一种测试模组及测试装置。

背景技术

目前，对摄像头模组可靠性(Reliability,RA)测试普遍做法主要有两种：一种是通过给摄像头模组通电、待机，未下发测试参数及指令(setting)让摄像头模组点亮运行，该方法无法模拟手机正常使用时摄像头模组的工作状态，测试环境与实际使用环境存在较大区别，因此，摄像头模组可能存在其他故障，无法通过该测试进行有效排查；第二种是将摄像头模组放入测试机台的治具中进行长时间运行，由于摄像头模组没有处理器，因此，该方法需要实时连接电脑和测试机台，测试设备投资大。同时，验证测试前需要电脑每次先下发用于点亮运行的测试参数及指令，操作繁琐。又因为每个测试治具一次只能测试一个摄像头模组，无法同时测试多个摄像头模组，测试效率低。

实用新型内容

有鉴于此，有必要提供一种测试模组，其可以同时测试多个摄像头模组，测试效率高，测试仪器成本低。

本实用新型提供一种测试模组，应用于同时进行多个摄像头模组的测试，其包括处理器、母电路板及多个子电路板；所述处理器与所述母电路板电连接，所述母电路板分别与所述多个子电路板电连接；所述子电路板用于连接所述摄像头模组，所述处理器用于接收并保存测试指令，所述测试指令包括测试参数，其中，所述测试参数为摄像头模组的工作参数；所述处理器还用于将所述测试指令通过所述母电路板、及所述子电路板输出至摄像头模组，以控制摄像头模组根据所述测试参数进行工作，以对所述摄像头模组进行测试。

所述测试模组可以同时测试多个待测摄像头模组，提高了测试效率；同时多个测试模组只需配置一台电脑，降低了测试仪器的成本。

其中，所述处理器和多个所述子电路板设置在所述母电路板上。将所述处理器及多个所述子电路板设置在母电路板上可以缩小测试模组的体积。

其中，所述处理器、所述母电路板及多个所述子电路板分别为独立的模块。所述处理器、所述母电路板及多个所述子电路板分别独立，再进行电连接，这样使得处理器和母电路板可以重复利用，应用于其它产品或组件的测试中。

其中，所述处理器包括控制模块和电连接所述控制模块的存储模块；所述存储模块用于存储所述测试指令；所述控制模块与所述母电路板电连接，用于将所述测试指令通过所述母电路板、及所述子电路板输出至所述摄像头模组，以控制所述摄像头模组根据所述测试参数进行工作。存储模块可以用于存储测试指令，控制模块可以执行存储模块存储的测试指令，控制摄像头模组根据测试参数进行工作，这使得测试模组可以进行脱机测试，后续测试无需再连接电脑。

其中，所述母电路板包括时钟电路、电源电路及多个第一连接器；所述时钟电路和所述电源电路分别与每个所述第一连接器电连接；每个所述第一连接器电连接一个所述子电路板，且不同的第一连接器电连接不同的子电路板，所述时钟电路用于产生多个时钟信号，并将所述多个时钟信号分别通过所述第一连接器及所述子电路板输出至所述多个摄像头模组，以控制所述多个摄像头模组根据所述测试参数进行测试的时序，所述电源电路用于通过所述第一连接器及所述子电路板给所述多个摄像头模组供电。母电路板设置第一连接器，方便与子电路板进行插接。