[实用新型]用于IGBT无损可靠性测试工装

说明书

本实用新型包含一种用于IGBT无损可靠性测试工装，其包括工件卡板及探针板，工件卡板上制有工件定位槽，工件卡板通过铰接件安装探针板，在探针板上穿装若干与工件的电极位置对应的探针，探针板上的探针之间焊接电路，探针板与工件卡板之间安装有相互锁装的锁扣。本实用新型的IGBT无损可靠性测试工装，结构设计科学合理，无需焊接测试线，安装螺丝等，不仅可实现高效测试，同时有效保护IGBT模块不受损坏。

技术领域

本实用新型属于IGBT技术领域，尤其是一种用于IGBT无损可靠性测试工装。

背景技术

IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)，绝缘栅双极型晶体管，是由BJT(双极型三极管)和MOS(绝缘栅型场效应管)组成的复合全控型电压驱动式功率半导体器件，兼有MOSFET的高输入阻抗和GTR的低导通压降两方面的优点。GTR饱和压降低，载流密度大，但驱动电流较大；MOSFET驱动功率很小，开关速度快，但导通压降大，载流密度小。IGBT综合了以上两种器件的优点，驱动功率小而饱和压降低。非常适合应用于直流电压为600V及以上的变流系统如交流电极、变频器、开关电源、照明电路、牵引传动等领域。

半导体IGBT模块在生产完成前，为了确保产品质量，通常对产品做可靠性测试，但是由于条件的限制，例如做测试是需要焊接测试线，需要安装螺丝，这样不可避免的对模块的外观造成损坏；而且，因为执行以上焊接测试线，安装螺丝等测试工序，会对测试的效率产生比较大的影响，限制了测试的数量，增大了测试时间。

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服现有技术的不足，提供一种用于IGBT无损可靠性测试工装，无需焊接测试线，安装螺丝等，不仅可实现高效测试，同时有效保护IGBT模块不受损坏。

本实用新型解决其技术问题是通过以下技术方案实现的：

一种用于IGBT无损可靠性测试工装，其包括工件卡板及探针板，工件卡板上制有工件定位槽，工件卡板通过铰接件安装探针板，在探针板上穿装若干与工件的电极位置对应的探针，探针板上的探针之间焊接电路，探针板与工件卡板之间安装有相互锁装的锁扣。

而且，所述工件卡板上制有若干个工件定位槽，所述探针板上安装有对应工件定位槽上工件电极位置的若干组探针。

而且，所述探针通过弹簧弹性安装在探针板上。

本实用新型的优点和有益效果为：

1、本实用新型的用于IGBT无损可靠性测试工装，打开工装的探针板，将被测IGBT模块放入工件卡板的工件定位槽内，盖上探针板即可，采用电压测试仪根据测试需要连接电极对应的探针，完成IGBT耐压测试，测试完毕，取出模块，对下一批IGBT执行同样的操作即可。

2、本实用新型的用于IGBT无损可靠性测试工装，探针板上根据IGBT模块的尺寸和电极布置，安装了对应的探针，探针通过弹簧弹性安装在探针板上，当探针板盖上时，探针直接压在IGBT模块的电极上，不需要在焊接测试线；另外探针板两边有锁扣，盖上探针板时，锁上锁扣，即可以压紧IGBT模块，不需要额外在安装螺丝，从而实现无损检测。

3、本实用新型的用于IGBT无损可靠性测试工装，结构设计科学合理，无需焊接测试线，安装螺丝等，不仅可大幅提高测试效率，同时有效保护IGBT模块不受损坏。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图(打开)；

图2为本实用新型的结构示意图(闭合)；

图3为图2的左视图。

附图标记：

1-工件卡板、2-探针板、3-工件定位槽、4-探针、5-锁扣、6-铰接件、7-挂钩、8-立板。

具体实施方式