[发明专利]LED驱动测试电路

说明书

本发明实施例公开了一种LED驱动测试电路，所述包括：驱动模块、测试引脚和开关模块，所述驱动模块与所述开关模块连接，所述测试引脚与所述开关模块连接；所述驱动模块用于接收测试驱动信号；所述测试引脚用于连接待测LED芯片；所述开关模块用于根据控制信号使所述测试驱动信号驱动所述待测LED芯片。本发明实施例实现了在驱动芯片与Micro‑LED芯片阵列封装之前对驱动芯片进行检测，降低了检测成本。

技术领域

本发明实施例涉及半导体技术领域，尤其涉及一种LED驱动测试电路。

背景技术

微型发光二极管(Micro Light-Emitting Diode，Micro-LED)具有自发光显示特性，其为全固态发光二极管，寿命长、亮度高、功耗低、体积较小、具有超高分辨率，可应用于高温或辐射等极端环境，越来越多的厂家已将其作为新一代显示技术进行规划。

Micro-LED显示器件通常由驱动芯片驱动Micro-LED芯片阵列进行发光，即驱动芯片通电后，向Micro-LED芯片阵列发送驱动信号，驱动Micro-LED芯片按要求进行发光。但是驱动芯片的质量有好有坏，而目前通常是在Micro-LED芯片阵列与驱动芯片封装之后，对封装后的器件进行整体测试，来检测驱动芯片的质量。当驱动芯片质量问题，不能实现驱动功能时，需要重新将驱动芯片从封装后的器件中提取出来，去倒查到底是电路设计的问题，还是半导体制造的问题。这种检测方式使得检测成本较高，且容易造成资源的浪费。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供一种LED驱动测试电路，以实现在驱动芯片与Micro-LED芯片阵列封装之前对驱动芯片进行检测，降低检测成本。

本发明实施例提供一种LED驱动测试电路，包括：驱动模块、测试引脚和开关模块，所述驱动模块与所述开关模块连接，所述测试引脚与所述开关模块连接；

所述驱动模块用于接收测试驱动信号；

所述测试引脚用于连接待测LED芯片；

所述开关模块用于根据控制信号使所述测试驱动信号驱动所述待测LED芯片。

进一步的，所述开关模块包括第一接口、第二接口和第三接口，所述第一接口用于接收控制信号，所述第二接口与所述驱动模块连接，所述第三接口与所述测试引脚连接。

进一步的，所述开关模块为NMOS管，所述第一接口为所述NMOS管的栅极，所述第二接口为所述NMOS管的漏极，所述第三接口为所述NMOS管的源极。

可选的，所述开关模块为三极管，所述第一接口为所述三极管的基极，所述第二接口为所述三极管的集电极，所述第三接口为所述三极管的发射极。

进一步的，所述驱动模块包括信号接收电路、信号保持电路和调节电路，所述信号接收电路与所述信号保持电路连接，所述信号保持电路与所述调节电路连接，所述调节电路与所述开关模块连接。

进一步的，所述信号接收电路包括第一NMOS管和第二NMOS管，所述第一NMOS管的栅极和所述第二NMOS管的栅极连接且用于接收第一测试驱动信号，所述第一NMOS管的漏极用于接收第二测试驱动信号，所述第二NMOS管的漏极用于接收第三测试驱动信号。

进一步的，所述第一测试驱动信号为行测试驱动信号，所述第二测试驱动信号为第一列测试驱动信号，所述第三测试驱动信号为第二列测试驱动信号，所述第一列测试驱动信号与所述第二列测试驱动信号互为相反信号。

进一步的，所述信号保持电路包括第一PMOS管、第二PMOS管、第三NMOS管和第四NMOS管；

所述第一PMOS管的栅极、所述第三NMOS管的栅极、所述第二PMOS管的漏极和所述第四NMOS管的漏极四者相连接；