[发明专利]一种基于时间序列数据的异常点检测方法及装置

权利要求书

1.一种基于时间序列数据的异常点检测方法，其特征在于，包括：

获取时间序列的待测试窗口数据，对所述待测试窗口数据进行升序排列，得到待测试窗口数据的升序数组；

设定所述待测试窗口数据的异常点比例和松弛参数；

基于所述异常点比例，获取所述升序数组的所有正常点，得到正常点子集；

基于所述正常点子集和所述松弛参数，计算所述待测试窗口数据的上界值和下界值；

基于所述上界值和所述下界值，确定所述待测试窗口数据中的异常点。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，基于所述正常点子集和所述松弛参数，计算所述待测试窗口数据的上界值和下界值之后，还包括：

判断所述上界值和下界值是否满足预设条件；

若否，则返回步骤设定所述待测试窗口数据的异常点比例和松弛参数。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，基于所述异常点比例，获取所述升序数组的所有正常点，得到正常点子集，具体包括：

基于所述异常点比例，计算升序数组的正常点最小值所对应的下标；

基于所述最小值所对应的下标，获取所述升序数组的所有正常点，得到正常点子集。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，升序数组正常点最小值所对应的下标的计算公式为：

其中，X表示升序数组，i为升序数组中正常点最小值所对应的下标，len(X)表示升序数组的长度，X的下标从0到len(X)-1，X[i]表示升序数组的第i+1个数，X[len(X)-1-out+i]表示升序数组第len(X)-out+i个数，out为异常点个数，out＝len(X)*a，a为异常点比例。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，基于所述正常点子集和所述松弛参数，计算所述待测试窗口数据的上界值和下界值，具体包括：

计算所述正常点子集中数据的标准差；

基于标准差和所述松弛参数，计算所述待测试窗口数据的上界值和下界值。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，基于标准差和所述松弛参数，计算所述待测试窗口数据的上界值和下界值，具体包括：

上界值的计算公式为:

n1＝X[len(X)-1-out+i]+b*s；

下界值的计算公式为：

n2＝X[i]-b*s；

其中，n1为待测试窗口数据的上界值，n2为待测试窗口数据的下界值，X表示升序数组，i为升序数组中正常点最小值所对应的下标，len(X)表示升序数组的长度，X的下标从0到len(X)-1，X[i]表示升序数组的第i+1个数，X[len(X)-1-out+i]表示升序数组第len(X)-out+i个数，out为异常点个数，out＝len(X)*a，a为异常点比例，s为正常点子集中数据的标准差，b为松弛参数。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，基于所述上界值和所述下界值，确定所述待测试窗口数据中的异常点，具体包括：

判断所述待测试窗口数据是否大于上界值或者小于下界值；

若是，则确定所述待测试窗口数据为异常点。

8.一种基于时间序列数据的异常点检测装置，其特征在于，所述装置包括：

升序数组获取模块，被配置为获取时间序列的待测试窗口数据，对所述待测试窗口数据进行升序排列，得到待测试窗口数据的升序数组；

超参数设定模块，被配置为设定所述待测试窗口数据的异常点比例和松弛参数；

正常点子集获取模块，被配置为基于所述异常点比例，获取所述升序数组的所有正常点，得到正常点子集；

界值计算模块，被配置为基于所述正常点子集和所述松弛参数，计算所述待测试窗口数据的上界值和下界值；

异常点确定模块，被配置为基于所述上界值和所述下界值，确定所述待测试窗口数据中的异常点。