[发明专利]一种检测系统

说明书

本申请公开了一种检测系统，包括检测装置、控制装置，检测装置包括：使能参数检测模块，用于检测待检测电源管理芯片的使能电压及使能引脚电流；buck参数检测模块，用于检测待检测电源管理芯片中buck控制器的参数；电源与逻辑检测模块，用于检测待检测电源管理芯片的关断电源电流，对待检测电源管理芯片进行断路/短路测试；控制装置，用于根据测试需求控制检测装置中对应的检测模块进行检测，还用于获取各检测模块进行检测时的测试数据，根据所有检测模块的测试数据确定待检测电源管理芯片的性能。本申请公开的上述技术方案，可以确定待检测电源管理芯片的性能，以便于根据性能筛选出性能优良的电源管理芯片。

技术领域

本申请涉及电源检测技术领域，更具体地说，涉及一种检测系统。

背景技术

随着SV(Server，服务器)技术的发展和芯片制造工艺的不断创新，人们对SV稳定性的要求也越来越高。

其中，SV的稳定性取决于其内部的电源管理芯片，性能优越的电源管理芯片可以更稳定地提供SV工作所需的电源。为此，则需要对电源管理芯片进行测试，以便从中选出性能比较好的电源管理芯片，从而便于提高SV的稳定性。

综上所述，如何便于筛选出性能更加优良的电源管理芯片，是目前本领域技术人员亟待解决的技术问题。

发明内容

有鉴于此，本申请的目的是提供一种检测系统，用于便于筛选出性能更加优良的电源管理芯片。

为了实现上述目的，本申请提供如下技术方案：

一种检测系统，包括检测装置、与所述检测装置相连的控制装置，所述检测装置包括使能参数检测模块、buck参数检测模块、电源与逻辑检测模块，其中：

所述使能参数检测模块，用于检测待检测电源管理芯片的使能电压及使能引脚电流；

所述buck参数检测模块，用于检测所述待检测电源管理芯片中buck控制器的参数；所述buck控制器的参数包括可调输出电压范围、参考电压、线路调整率、启动时间、最小占空比及最短关机时间；

所述电源与逻辑检测模块，用于检测所述待检测电源管理芯片的关断电源电流，并对所述待检测电源管理芯片进行断路/短路测试；

所述控制装置，用于根据测试需求控制所述检测装置中对应的检测模块进行检测，还用于获取各检测模块进行检测时的测试数据，并根据所述检测装置中所有检测模块的测试数据确定所述待检测电源管理芯片的性能。

优选的，所述使能参数检测模块包括第一开关、第一电阻、第二电阻、第一电容、第二开关、第三开关、第二电容、第三电容、第四开关、第四电容、第五开关、第一电源板卡、第二电源板卡、第三电源板卡、第四电源板卡、第五电源板卡、第六电源板卡，其中：

所述第一开关的第一端连接在所述待检测电源管理芯片中LDO的反馈引脚上，所述LDO的反馈引脚与所述第一电源板卡相连，所述LDO的使能引脚与所述第二电源板卡相连，所述第一开关的第二端与所述第一电阻的第一端及所述第二电阻的第一端相连，所述第一电阻的第二端与所述第二开关的第一端及所述第一电容的第一端相连，所述第二电阻的第二端接地，所述第一电容的第二端接地，所述第二开关的第二端连接在所述LDO的输出引脚上，所述LDO的输出引脚与所述第三电源板卡相连，所述第三开关的第一端连接在所述LDO的输入电流信号引脚上，所述LDO的输入电流信号引脚与所述第四电源板卡相连，所述第三开关的第二端与所述第二电容的第一端及所述第三电容的第一端相连，所述第二电容的第二端及所述第三电容的第二端均接地，所述第四开关的第一端连接在所述LDO的公共连接引脚上，所述LDO的公共连接引脚与所述第五电源板卡相连，所述第四开关的第二端与所述第四电容的第一端相连，所述第四电容的第二端接地，所述第五开关的第一端连接在所述待检测电源管理芯片的模拟地引脚上，所述待检测电源管理芯片的模拟地引脚接地，且所述buck控制器的数字地引脚接地，所述第五开关的第二端与所述第六电源板卡相连；