[发明专利]一种重影测量方法、装置、可读存储介质和计算机设备

说明书

本发明实施例提供了一种重影测量方法、装置、可读存储介质和计算机设备。本发明实施例提供的技术方案中，获取图像采集设备采集的目标图像，通过腐蚀算法和互相关算法对所述目标图像进行计算，以生成所述目标图像的互相关曲线，根据所述互相关曲线生成重影对比度和重影距离。本发明实施例能够有效表征重影的严重程度，且抗干扰能力强。

【技术领域】

本发明涉及头戴显示器领域，尤其涉及一种重影测量方法、装置、可读存储介质和计算机设备。

【背景技术】

影响光学系统成像质量的杂散光包括重影、鬼像和眩光。目前针对杂散光的测试方法可以参考国际标准化组织(International Standard Organization，ISO)标准。ISO标准可以有效反馈眩光和鬼像对成像质量的影响，但对重影无法有效表征。尤其在头戴显示设备中，几乎没有眩光现象，但重影问题却严重。

因此，相关技术无法有效表征重影的严重程度。

【发明内容】

有鉴于此，本发明实施例提供了一种重影测量方法、装置、可读存储介质和计算机设备，能够有效表征重影的严重程度，且抗干扰能力强。

第一方面，本发明实施例提供了一种重影测量方法，所述方法包括：

获取图像采集设备采集的目标图像；

通过腐蚀算法和互相关算法对所述目标图像进行计算，以生成所述目标图像的互相关曲线；；

根据所述互相关曲线生成重影对比度和重影距离。

可选地，所述目标图像包括第一图像和第二图像；所述第一图像包括横线，所述第二图像包括纵线。

可选地，所述通过腐蚀算法和互相关算法对所述目标图像进行计算，以生成所述目标图像的互相关曲线，具体包括：

通过所述腐蚀算法对所述第一图像进行计算生成第三图像，以消除所述第一图像中的重影；

通过所述腐蚀算法对所述第二图像进行计算生成第四图像，以消除所述第二图像中的重影；

通过所述互相关算法对所述第一图像和所述第三图像进行计算，以生成所述第一图像和所述第三图像沿纵方向的第一互相关曲线；

通过所述互相关算法对所述第二图像和所述第四图像进行计算，以生成所述第二图像和所述第四图像沿横方向的第二互相关曲线。

可选地，所述根据所述互相关曲线生成重影对比度和重影距离之前，还包括：

读取所述互相关曲线中的最高峰值和第二高峰值的峰值对比度和峰值距离。

可选地，所述读取所述互相关曲线中的最高峰值和第二高峰值的的峰值对比度和峰值距离，具体包括：

读取第一互相关曲线中的最高峰值的和第二高峰值的第一峰值对比度和第一峰值距离；

读取第二互相关曲线中的最高峰值的和第二高峰值的第二峰值对比度和第二峰值距离。

可选地，所述根据所述互相关曲线生成重影对比度和重影距离，具体包括：

通过重影对比度公式对第一峰值对比度和第二峰值对比度进行计算得到所述重影对比度；

通过重影距离公式对第一峰值距离和第二峰值距离进行计算得到所述重影距离。

可选地，所述重影对比度公式包括：

M＝max{M_v,M_h}

其中，所述M为所述重影对比度，所述M_v为所述第一峰值对比度，所述M_h为所述第二峰值对比度。