[发明专利]一种重影测量方法、装置、可读存储介质和计算机设备

权利要求书

1.一种重影测量方法，其特征在于，所述方法包括：

获取图像采集设备采集的目标图像；

通过腐蚀算法和互相关算法对所述目标图像进行计算，以生成所述目标图像的互相关曲线；

根据所述互相关曲线生成重影对比度和重影距离。

2.根据权利要求1所述的重影测量方法，其特征在于，所述目标图像包括第一图像和第二图像；所述第一图像包括横线，所述第二图像包括纵线。

3.根据权利要求2所述的重影测量方法，其特征在于，所述通过腐蚀算法和互相关算法对所述目标图像进行计算，以生成所述目标图像的互相关曲线，具体包括：

通过所述腐蚀算法对所述第一图像进行计算生成第三图像，以消除所述第一图像中的重影；

通过所述腐蚀算法对所述第二图像进行计算生成第四图像，以消除所述第二图像中的重影；

通过所述互相关算法对所述第一图像和所述第三图像进行计算，以生成所述第一图像和所述第三图像沿纵方向的第一互相关曲线；

通过所述互相关算法对所述第二图像和所述第四图像进行计算，以生成所述第二图像和所述第四图像沿横方向的第二互相关曲线。

4.根据权利要求1所述的重影测量方法，其特征在于，所述根据所述互相关曲线生成重影对比度和重影距离之前，还包括：

读取所述互相关曲线中的最高峰值和第二高峰值的峰值对比度和峰值距离。

5.根据权利要求4所述的重影测量方法，其特征在于，所述读取所述互相关曲线中的最高峰值和第二高峰值的的峰值对比度和峰值距离，具体包括：

读取第一互相关曲线中的最高峰值的和第二高峰值的第一峰值对比度和第一峰值距离；

读取第二互相关曲线中的最高峰值的和第二高峰值的第二峰值对比度和第二峰值距离。

6.根据权利要求1所述的重影测量方法，其特征在于，所述根据所述互相关曲线生成重影对比度和重影距离，具体包括：

通过重影对比度公式对第一峰值对比度和第二峰值对比度进行计算得到所述重影对比度；

通过重影距离公式对第一峰值距离和第二峰值距离进行计算得到所述重影距离。

7.根据权利要求6所述的重影测量方法，其特征在于，所述重影对比度公式包括：

M＝max{M_v,M_h}

其中，所述M为所述重影对比度，所述M_v为所述第一峰值对比度，所述M_h为所述第二峰值对比度。

8.根据权利要求6所述的重影测量方法，其特征在于，所述重影距离公式包括：

D＝sqrt{D_v²+D_h²}

其中，所述D为所述重影距离，所述D_v为所述第一峰值距离，所述D_h为所述第二峰值距离。

9.一种重影测量装置，其特征在于，所述装置包括：

获取模块，用于获取图像采集设备采集的目标图像；

第一计算模块，用于通过腐蚀算法和互相关算法对所述目标图像进行计算，以生成所述目标图像的互相关曲线；

第二计算模块，用于根据所述互相关曲线生成重影对比度和重影距离。

10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述目标图像包括第一图像和第二图像；所述第一图像包括横线，所述第二图像包括纵线。