[发明专利]一种用于NOR Flash可靠性测试的方法及系统

权利要求书

1.一种用于NOR Flash可靠性测试的方法，其特征在于，包含：

通过PC机向若干微控制单元广播数据包格式的测试指令；所述测试指令包含用于唯一识别所述微控制单元的标志号、用于唯一识别NOR Flash芯片的ID号、操作指令；所述操作指令用于指示对NOR Flash芯片执行的操作；

所述微控制单元基于所述标志号丢弃所述测试指令，或基于所述ID号、操作指令向对应的NOR Flash芯片执行对应操作，并向PC机反馈操作结果。

2.如权利要求1所述的用于NOR Flash可靠性测试的方法，其特征在于，所述操作指令包含：读指令、写指令、擦除指令。

3.如权利要求2所述的用于NOR Flash可靠性测试的方法，其特征在于，所述测试指令还包括：待写入NOR Flash芯片的测试数据、时钟频率、NOR Flash的读取/写入/擦除地址区间。

4.如权利要求3所述的用于NOR Flash可靠性测试的方法，其特征在于，NOR Flash芯片的CS脚通过对应的电子开关连接到对应微控制单元QUADSPI接口的CS线；微控制单元基于所述ID号控制对应电子开关导通，并基于所述ID号拉低对应NOR Flash芯片CS脚的电平；微控制单元通过其QUADSPI接口的四路数据线分别与对应的四个NOR Flash芯片进行读、写、擦除操作。

5.如权利要求4所述的用于NOR Flash可靠性测试的方法，其特征在于，包含：

微控制单元基于所述ID号、擦除地址区间，擦除对应NOR Flash芯片的所述擦除地址区间的数据；

微控制单元读取NOR Flash芯片的所述擦除地址区间的数据；若从擦除地址区间读出数据，则向PC机反馈第一数据包，所述第一数据包包含：NOR Flash芯片的ID号及第一字段；所述第一字段用于指示擦除失败；

若从擦除地址区间未读出数据，则向PC机反馈第二数据包，所述第二数据包包含NORFlash芯片的ID号及第二字段，所述第二字段用于指示擦除成功。

6.如权利要求5所述的用于NOR Flash可靠性测试的方法，其特征在于，包含：

微控制单元基于所述ID号、写指令、写入地址区间向NOR Flash芯片写入所述测试数据；

微控制单元读取NOR Flash芯片的所述写入地址区间的数据，并比较读取的数据与所述测试数据；

若比对结果相同，微控制单元向PC机反馈第三数据包，所述第三数据包包含：NORFlash芯片的ID号及第三字段，所述第三字段用于指示读写成功；

若比对结果不同，微控制单元向PC机反馈第四数据包，所述第四数据包包含：NORFlash芯片的ID号及第四字段，所述第四字段用于指示读写失败。

7.如权利要求1所述的用于NOR Flash可靠性测试的方法，其特征在于，还包含：改变NORFlash芯片的电压。

8.如权利要求1所述的用于NOR Flash可靠性测试的方法，其特征在于，每个微控制单元对应两个操作指示灯，所述两个操作指示灯为第一操作指示灯和第二操作指示灯；微控制单元通过控制对应的第一操作指示灯、第二操作指示灯通断，指示该微控制单元向对应NOR Flash芯片执行的操作。

9.如权利要求6所述的用于NOR Flash可靠性测试的方法，其特征在于，每个NOR Flash对应两个结果指示灯，所述两个结果指示灯为第一结果指示灯和第二结果指示灯；当微控制单元向PC机反馈第二、第三数据包时，微控制单元驱动第一结果指示灯亮且第二指示灯灭；当微控制单元向PC机反馈第一、第四数据包时，微控制单元驱动第二结果指示灯亮且第一指示灯灭。

10.一种用于NOR Flash可靠性测试的系统，用于执行如权利要求1至9任一所述的用于NOR Flash可靠性测试的方法，其特征在于，包含：

互相通讯连接的PC机和若干个微控制单元，通过PC机向微控制单元广播数据包格式的测试指令；

若干个NOR Flash芯片，微控制单元基于所述测试指令中微控制单元的标志号丢弃所述测试指令；或基于测试指令中的所述标志号、NOR Flash芯片的ID号、操作指令向对应NORFlash芯片执行擦除、读、写操作，并向PC机反馈操作结果；

若干个电子开关，一个电子开关对应一个NOR Flash芯片；所述电子开关电性连接设置在对应NOR Flash芯片的CS脚与对应微控制单元QUADSPI接口的CS线之间，通过微控制单元控制所述电子开关的导通与关断；

若干个第一操作指示灯和若干个第二操作指示灯，每个微控制单元对应一个第一操作指示灯和一个第二操作指示灯，通过第一、第二操作指示灯指示该微控制单元向对应NORFlash芯片执行的操作；

若干个第一结果指示灯和若干个第二结果指示灯，每个NOR Flash芯片对应一个第一结果指示灯和一个第二结果指示灯，通过第一、第二结果指示灯指示向该NOR Flash芯片执行的操作是否成功。