[发明专利]一种光轴偏差测量方法、智能终端及计算机可读存储介质

权利要求书

1.一种光轴偏差测量方法，其特征在于，所述光轴偏差测量方法具体包括：

获取针对同一场景拍摄的第一图像和第二图像；

根据所述第一图像和所述第二图像，计算对应的目标本征矩阵；

根据所述目标本征矩阵，计算与所述第一图像和所述第二图像对应的光轴偏差值。

2.根据权利要求1所述的光轴偏差测量方法，其特征在于，所述根据所述第一图像和所述第二图像，计算对应的目标本征矩阵，具体包括：

提取所述第一图像中的特征点，生成第一特征点集；以及提取所述第二图像中的特征点，生成第一特征点集；

将所述第一特征点集和所述第二特征点集进行匹配，生成若干对特征点对；

根据所述特征点对，计算所述第一图像和所述第二图像之间的目标本征矩阵。

3.根据权利要求2所述的光轴偏差测量方法，其特征在于，所述第一图像为第一摄像头拍摄的图像，所述第二图像为第二摄像头拍摄的图像；所述提取所述第一图像和所述第二图像中的特征点，生成第一特征点集和第二特征点集，具体包括：

将所述第一图像和所述第二图像进行灰度化处理，生成第一灰度图像和第二灰度图像；

根据预设的第一畸变系数，对所述第一灰度图像进行矫正，生成第一矫正图像，以及根据预设的第二畸变系数，对所述第二灰度图像进行矫正，生成第二矫正图像，其中，所述第一畸变系数为所述第一摄像头的畸变系数，所述第二畸变系数为所述第二摄像头的畸变系数；

对所述第一矫正图像进行特征点提取，生成对应的第一特征点集；以及对所述第二矫正图像进行特征点进行提取，生成对应的第二特征点集。

4.根据权利要求2所述的光轴偏差测量方法，其特征在于，所述根据所述特征点对，计算所述第一图像和所述第二图像之间的目标本征矩阵，具体包括：

根据预设的拟合规则，对所述特征点对进行拟合计算，生成对应的第N本征矩阵和第N内点数值，其中，N为正整数且当初次进行拟合计算时，N等于1；

当所述第N内点数值大于预设的内点数阈值时，将所述第N内点数值作为内点数阈值，并将预设的迭代次数加一，其中，当初次进行拟合计算时，迭代次数为零；

迭代计算第N本征矩阵并根据第N内点数值更新所述迭代次数，直至所述迭代次数大于预设的迭代次数阈值；

确定数值最大的第N内点数值对应的本征矩阵为所述目标本征矩阵。

5.根据权利要求4所述的光轴偏差测量方法，其特征在于，所述根据预设的拟合规则，对所述特征点对进行拟合计算，生成对应的第N本征矩阵和第N内点数值，具体包括：

选取所述特征对点集中与预设的测试数量相等数量的特征点对作为测试特征点对；

根据所述测试特征点对，计算对应的第N本征矩阵和第N内点数值。

6.根据权利要求5所述的光轴偏差测量方法，其特征在于，所述根据所述测试特征点对，计算对应的第N本征矩阵和第N内点数值，具体包括：

将所述测试特征点写入预设的矩阵模板中，生成测试矩阵；

根据所述测试矩阵，计算所述测试矩阵对应的零空间，得到第N本征矩阵；

根据所述第N本征矩阵，计算所述特征点对中匹配的特征点的数量，得到所述第N内点数值。

7.根据权利要求6所述的光轴偏差测量方法，其特征在于，所述根据所述测试矩阵，计算所述测试矩阵对应的零空间，得到第N本征矩阵，具体包括：

根据所述测试矩阵，对所述测试矩阵对应的零空间进行消元，得到对应的系统方程；

根据预设的附加方程，对所述系统方程进行消元，生成中间矩阵；

对所述中间矩阵求解，生成对应的中间值；

根据所述中间值，对所述零空间进行求解，生成第N本征矩阵。