[发明专利]纠缠量子态转换方法、装置、设备、存储介质及产品

权利要求书

1.一种纠缠量子态转换方法，包括：

确定待进行纠缠转换的初始量子态，其中，所述初始量子态至少是第一量子比特和第二量子比特进行量子纠缠后所对应的纠缠量子态；

将与所述第一量子比特对应的第一参数化量子电路作用到第一量子比特上，并得到第一测量结果，所述第一测量结果表征作用所述第一参数化量子电路后的所述第一量子比特的状态信息；

将与所述第二量子比特对应的第二参数化量子电路作用到第二量子比特上，并得到第二测量结果，所述第二测量结果表征作用所述第二参数化量子电路后的所述第二量子比特的状态信息；

至少基于所述第一测量结果和所述第二测量结果，得到作用所述第一参数化量子电路后的所述第一量子比特和作用所述第二参数化量子电路后的第二量子比特所对应的转换量子态，以将所述初始量子态转换成目标量子态。

2.根据权利要求1所述的方法，还包括：

确定量子比特纠缠对，其中，所述量子比特纠缠对中包含有相互纠缠的至少两个量子比特；

将所述量子比特纠缠对所包含的至少两个量子比特拆分成两部分，得到第一量子比特和第二量子比特。

3.根据权利要求1所述的方法，还包括：

选取出与所述第一测量结果和所述第二测量结果相匹配的新的第一参数化量子电路，并作用到当前的所述第一量子比特上，以得到新的第一测量结果，并更新所述第一测量结果；以及，选取出与所述第一测量结果和所述第二测量结果相匹配的新的第二参数化量子电路，并作用到当前的第二量子比特上，以得到新的第二测量结果，并更新所述第二测量结果，以此循环，直至达到预设循环次数；

其中，所述至少基于所述第一测量结果和所述第二测量结果，得到作用所述第一参数化量子电路后的所述第一量子比特和作用所述第二参数化量子电路后的第二量子比特所对应的转换量子态，包括：

至少基于更新后的所述第一测量结果和所述第二测量结果，得到作用所有所述第一参数化量子电路后的所述第一量子比特和作用所有所述第二参数化量子电路后的第二量子比特所对应的转换量子态。

4.根据权利要求1至3任一项所述的方法，还包括：

计算所述转换量子态与所述目标量子态之间的迹距离；

对所述第一参数化量子电路的参数和所述第二参数化量子电路的参数进行调整，以调整得到的所述转换量子态，以最小化所述迹距离。

5.根据权利要求4所述的方法，还包括：

将所述迹距离的最小值所对应的转换量子态作为目标转换量子态，所述目标转换量子态即为与所述目标量子态的迹距离满足预设规则的量子态。

6.根据权利要求4所述的方法，还包括：

基于所述迹距离确定损失函数；

对所述第一参数化量子电路的参数和所述第二参数化量子电路的参数进行调整，以最小化所述损失函数。

7.根据权利要求6所述的方法，还包括：

将所述损失函数的最小值所对应的转换量子态作为目标转换量子态，所述目标转换量子态即为与所述目标量子态的迹距离满足预设规则的量子态。

8.一种纠缠量子态转换装置，包括：

初始量子态确定单元，用于确定待进行纠缠转换的初始量子态，其中，所述初始量子态至少是第一量子比特和第二量子比特进行量子纠缠后所对应的纠缠量子态；

第一参数化量子电路处理单元，用于将与所述第一量子比特对应的第一参数化量子电路作用到第一量子比特上，并得到第一测量结果，所述第一测量结果表征作用所述第一参数化量子电路后的所述第一量子比特的状态信息；

第二参数化量子电路处理单元，用于将与所述第二量子比特对应的第二参数化量子电路作用到第二量子比特上，并得到第二测量结果，所述第二测量结果表征作用所述第二参数化量子电路后的所述第二量子比特的状态信息；

纠缠转换单元，用于至少基于所述第一测量结果和所述第二测量结果，得到作用所述第一参数化量子电路后的所述第一量子比特和作用所述第二参数化量子电路后的第二量子比特所对应的转换量子态，以将所述初始量子态转换成目标量子态。